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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利一种用于测试热反射系数的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116539565B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310348052.7，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权一种用于测试热反射系数的方法及系统是由袁超;马运良设计研发完成，并于2023-04-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测试热反射系数的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于热反射技术领域，公开了一种用于测试热反射系数的方法及系统。本发明利用高精度的冷热台来精准地控制测试样品的表面温度，基于两个探测器分别获得入射光信息和反射光信息，结合温度数据计算得到测试样品在测试温度段的热反射系数。本发明能够测得准确性更好的热反射系数，提供的用于测试热反射系数的系统的结构简单，成本较低，使用操作便捷，工作稳定性高，实用性强。

本发明授权一种用于测试热反射系数的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种用于测试热反射系数的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、将测试样品置于冷热台内； 步骤2、调节所述冷热台至基准温度，待热平衡后，记录所述基准温度下测试样品的标记点的位置，利用激光光源产生测试所需波长的激光光束；激光光束经分光组件反射后的光束入射至第一探测器，所述第一探测器与信号处理装置连接，通过所述信号处理装置得到基准入射光信息；所述激光光束经所述分光组件透射后的光束经物镜聚焦至测试样品的表面并反射，该反射探测光束经所述分光组件导向至第二探测器，所述第二探测器与所述信号处理装置连接，通过所述信号处理装置得到基准反射光信息； 步骤3、调节所述冷热台至测试温度，待热平衡后，基于所述标记点的位置进行标记点复位，继续利用所述激光光源产生测试所需波长的激光光束；激光光束经分光组件反射后的光束入射至所述第一探测器，通过所述信号处理装置得到测试入射光信息；所述激光光束经所述分光组件透射后的光束经所述物镜聚焦至测试样品的表面并反射，此反射探测光束经所述分光组件导向至所述第二探测器，通过所述信号处理装置得到测试反射光信息； 步骤4、基于所述基准温度、所述基准入射光信息、所述基准反射光信息、所述测试温度、所述测试入射光信息和所述测试反射光信息计算得到测试样品在测试温度段的热反射系数，所述测试温度段为所述基准温度至所述测试温度的温度段； 所述热反射系数采用以下公式计算得到： 其中，为测试温度段的热反射系数，为基准温度，为基准反射光信息，为基准入射光信息，为测试温度，为测试反射光信息，为测试入射光信息； 其中，所述标记点为在所述基准温度下通过所述物镜观察测试样品后选取的测试样品表面的脏点或破损点；基于所述标记点的位置，利用位移台将所述标记点复位。

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