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北京超弦存储器研究院梅健平获国家专利权

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龙图腾网获悉北京超弦存储器研究院申请的专利一种应用于MRAM中的放大电路获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116230034B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111475858.X,技术领域涉及:G11C7/06;该发明授权一种应用于MRAM中的放大电路是由梅健平;刘铭;苏如伟;孙锋锋;朱长峰设计研发完成,并于2021-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

一种应用于MRAM中的放大电路在说明书摘要公布了:本发明提出了一种应用于MRAM中的放大电路。所述放大电路包括基础放大电路和电流差增加电路;所述基础放大电路包括两个负载MOS管;所述电流差增加电路包括两个MOS管;所述电流差增加电路中的两个MOS管对称镜像设置于所述基础放大电路的两个负载MOS管之间,并且,所述两个MOS管的各信号端口分别与所述两个负载MOS管的各端口之间进行电路连接,通过所述电流差增加电路的两个MOS管增加所述两个负载MOS管之间的电流差,使所述两个负载MOS管的漏极信号端输出的电压之间的差值增大。

本发明授权一种应用于MRAM中的放大电路在权利要求书中公布了:1.一种应用于MRAM中的放大电路,其特征在于,所述放大电路包括基础放大电路和电流差增加电路; 所述基础放大电路包括负载MOS管MP0和负载MOS管MP3; 所述电流差增加电路包括MOS管MP1和MOS管MP2; 所述MOS管MP1的栅极与所述基础放大电路的负载MOS管MP0的栅极相连;所述MOS管MP1的源极与电流信号输入端相连;所述MOS管MP1的漏极与所述基础放大电路的负载MOS管MP3的漏极相连; 所述MOS管MP2的栅极与所述基础放大电路的负载MOS管MP3的栅极相连;所述MOS管MP2的源极与电流信号输入端相连;所述MOS管MP2的漏极与所述基础放大电路的负载MOS管MP0的漏极相连; 所述MOS管MP1的漏极信号输出端连接至所述MOS管MP2的栅极和负载MOS管MP3的栅极之间的连接线;所述MOS管MP2的漏极信号输出端连接至所述MOS管MP0的栅极和MOS管MP1栅极之间的连接线; 通过所述电流差增加电路的MOS管MP1和MOS管MP2增加所述负载MOS管MP0和所述负载MOS管MP3之间的电流差,使所述负载MOS管MP0和所述负载MOS管MP3的漏极信号端输出的电压之间的差值增大。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京超弦存储器研究院,其通讯地址为:102600 北京市大兴区亦庄经济技术开发区科创十街京东贝科技园11号楼4层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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