天津大学房丰洲获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉天津大学申请的专利一种高精度相位偏折术测量系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116222442B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310380063.3，技术领域涉及：G01B11/30；该发明授权一种高精度相位偏折术测量系统及方法是由房丰洲;王颖墨设计研发完成，并于2023-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高精度相位偏折术测量系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及镜面物体表面测量技术领域，尤其涉及一种高精度相位偏折术测量系统及方法。包括：显示屏，用于显示测试图像，显示测试图像为结构光条纹图像。图像采集设备，用于获取待测物表面形成的显示测试图像的镜像。以及匀光片，固定设置于显示屏的出光侧。匀光片的平面度小于显示屏的平面度。本发明至少具有以下有益效果：通过在显示屏前设置匀光片。会改善显示器的平面度对最终的测量精度的影响程度，减小测量结果存在的误差。由此，提高了相位测量偏折术对大尺寸待测物体进行测量的精度。
本发明授权一种高精度相位偏折术测量系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种高精度相位偏折术测量系统，其特征在于，包括： 显示屏，用于显示测试图像，所述显示测试图像为结构光条纹图像； 图像采集设备，用于获取待测物表面形成的显示测试图像的镜像；以及 匀光片，固定设置于所述显示屏的出光侧；所述匀光片的平面度小于所述显示屏的平面度；显示屏与匀光片平行设置，显示屏与匀光片之间的最小距离β符合如下条件：β∈[0mm，10mm]； 均光片中存在能够使光线发生漫反射的物质或结构，通过漫反射可避免光线在匀光片中产生明显的折射，从而减少给相位信息引入的折射偏差； 光线由屏幕发出后，经过各种介质的偏转，形成一个具有发散状的光线；由此，当光线射入匀光片后会在匀光片中发生折射。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人天津大学，其通讯地址为：300100 天津市南开区卫津路92号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励