华为技术有限公司;中国科学院上海光学精密机械研究所刘星获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉华为技术有限公司;中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种数据读取方法、装置及光存储系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116204109B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111444230.3，技术领域涉及：G06F3/06；该发明授权一种数据读取方法、装置及光存储系统是由刘星;魏劲松;唐泓炜设计研发完成，并于2021-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种数据读取方法、装置及光存储系统在说明书摘要公布了：本申请提供一种数据读取方法、装置及光存储系统，涉及数据存储技术领域，用于提高数据读取的速度。方法应用于读取装置中，方法包括：读取装置在光盘包括的多个存储层上形成参考图像；读取装置在第一垂直位置扫描多个存储层中目标存储层上的该参考图像，以确定参考图像的第一清晰参数；读取装置在第二垂直位置扫描该目标存储层上的该参考图像，以确定该参考图像的第二清晰参数，第一垂直位置和第二垂直位置之间的距离小于多个存储层中相邻的两个存储层的间隔厚度；读取装置根据第二垂直位置、第一清晰参数、第二清晰参数和目标存储层的目标清晰参数，确定第三垂直位置；读取装置在第三垂直位置扫描目标存储层，以读取目标存储层中的目标数据。
本发明授权一种数据读取方法、装置及光存储系统在权利要求书中公布了：1.一种数据读取方法，其特征在于，应用于读取装置中，所述方法包括： 所述读取装置在光盘包括的多个存储层上形成参考图像； 所述读取装置在第一垂直位置扫描所述多个存储层中目标存储层上的所述参考图像，以确定所述参考图像的第一清晰参数； 所述读取装置在第二垂直位置扫描所述目标存储层上的所述参考图像，以确定所述参考图像的第二清晰参数，所述第一垂直位置和所述第二垂直位置之间的距离小于所述多个存储层中相邻的两个存储层的间隔厚度； 所述读取装置根据所述第二垂直位置、所述第一清晰参数、所述第二清晰参数和所述目标存储层的目标清晰参数，确定第三垂直位置； 所述读取装置在所述第三垂直位置扫描所述目标存储层，以读取所述目标存储层中的目标数据。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华为技术有限公司;中国科学院上海光学精密机械研究所，其通讯地址为：518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励