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伊莱肯兹公司坦·特龙·勒获国家专利权

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龙图腾网获悉伊莱肯兹公司申请的专利用于通过光学传感器分析气体的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114599955B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080055665.6,技术领域涉及:G01N21/3504;该发明授权用于通过光学传感器分析气体的方法是由坦·特龙·勒设计研发完成,并于2020-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

用于通过光学传感器分析气体的方法在说明书摘要公布了:一种用于测量存在于气体中的气态物质Gxx的量cxx的方法,所述气态物质能够在吸收光谱带Δxx中吸收光,所述方法包括以下步骤:a将所述气体布置在光源11与测量光电检测器20之间,所述光源11能够发射入射光波12,所述入射光波穿过气体向所述测量光电检测器20传播,所述光源被电源电流经过,以使得所述光源达到温度值;b通过所述光源11照明气体G;c通过所述测量光电检测器20,测量由所述气体传输的光波14在包括所述吸收光谱带Δxx的测量光谱带Δmesmes中的称作测量强度的强度Ik;d通过参照光电检测器20refref,测量参照光波12refref的称作参照强度的强度Irefrefk,所述参照光波由所述光源11在参照光谱带Δrefref中发射;在多个测量时刻1…k…K,实施所述步骤b至d,所述方法包括,在每个测量时刻:e基于由所述参照光电检测器测量的参照强度Irefrefk,考虑到代表所述入射光波12在测量光谱带Δmesmes中的强度相对于所述入射光波12在参照光谱带中的强度的变化的修正函数δ。

本发明授权用于通过光学传感器分析气体的方法在权利要求书中公布了:1.一种用于测量存在于气体中的气态物质Gx的量cx的方法,所述气态物质在吸收光谱带Δx中吸收光,所述方法包括以下步骤: a将所述气体布置在光源11与测量光电检测器20之间,所述光源11配置为发射入射光波12,所述入射光波穿过气体向所述测量光电检测器20传播,所述光源被电源电流经过,以使得所述光源达到温度值; b通过所述光源11照明气体G; c通过所述测量光电检测器20测量由所述气体传输的光波14在包括所述吸收光谱带Δx的测量光谱带Δmes中的测量强度Ik; d通过参照光电检测器20ref,测量参照光波12ref的参照强度Irefk, 所述参照光波由所述光源11在参照光谱带Δref中发射; 在多个测量时刻1…k…K,实施所述步骤b至d,所述方法在每个测量时刻包括: e基于由所述参照光电检测器测量的参照强度Irefk,考虑到代表所述入射光波12在测量光谱带Δmes中的强度相对于所述入射光波12在参照光谱带Δref中的强度的变化的修正函数δ, f基于在所述步骤c时测量的测量强度、在所述步骤d时测量的参照强度和在所述步骤e时考虑到的修正函数,估计所述气态物质Gx的量cxk; 其中,通过比较不同的温度水平或不同的电源电流水平下的由测试光源分别在所述测量光谱带中和在所述参照光谱带中发射的光强度,在校准阶段期间预先建立所述修正函数δ,所述测试光源视为代表在每个测量时刻在所述步骤b中使用的光源,并且 其中,所述校准阶段包括确定老化函数,其中,所述老化函数基于所述光源在所述参照光谱带中的老化来估计所述光源在所述测量光谱带中的老化,其中,所述光源在所述测量光谱带中的老化不同于所述光源在所述参照光谱带中的老化,并且其中,所述修正函数基于所述老化函数来确定。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人伊莱肯兹公司,其通讯地址为:法国格勒诺布尔;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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