南京博威半导体有限公司李佳鸿获国家专利权
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龙图腾网获悉南京博威半导体有限公司申请的专利一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223870554U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520297228.5，技术领域涉及：G01N21/88；该实用新型一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置是由李佳鸿设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置，属于半导体芯片外观瑕疵检测技术领域，包括：相机组件、反射组件、外同轴光源、位置调节机构，反射组件位于相机组件一侧，反射组件用于将芯片的成像光线反射给相机组件，外同轴光源设置于相机组件与反射组件之间，外同轴光源用于朝向反射组件发出芯片成像用光线，反射组件还用于将外同轴光源的光线反射给芯片，位置调节机构具有与反射组件距离远近可调节的活动端，活动端安装有相机组件。通过将内同轴光源改为外同轴光源，避免灯珠光晕的硬件缺陷，通过设置位置调节机构，可以实现相机组件与反射组件间距的调节，从而提高了产品的工作效率和易用性。
本实用新型一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置在权利要求书中公布了：1.一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置，其特征在于，包括： 相机组件； 反射组件，位于所述相机组件一侧，所述反射组件用于将芯片的成像光线反射给所述相机组件； 外同轴光源，设置于所述相机组件与所述反射组件之间，所述外同轴光源用于朝向所述反射组件发出所述芯片成像用光线； 位置调节机构，具有与所述反射组件距离远近可调节的活动端，所述活动端安装有所述相机组件。
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