买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉武汉工程大学申请的专利基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121262474B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511812049.1，技术领域涉及：H04N23/73；该发明授权基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法及系统是由洪汉玉;陈志远;李魁;秦炎;张薇;朱映;叶亮;李炎赫设计研发完成，并于2025-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法及系统，该方法首先基于初始曝光图像计算调制度图和最大灰度值，并根据调制度划分多个区域，并通过像素的灰度值校正和局部信息熵加权，精确计算各聚类的平均灰度，进而为不同区域求解出最优曝光时间，在图像融合阶段，通过分析高曝光图像的灰度值分布动态确定过曝阈值，并以各曝光下的像素调制度为核心依据计算融合权重，最终生成全局高质量的条纹图像。本发明解决了高动态范围物体因局部过曝或欠曝导致重建精度低的问题，显著提升了高动态范围物体的三维测量精度与自动化水平。

本发明授权基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于面结构光三维测量的自适应多重曝光融合方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、根据预设的初始曝光时间，控制相机采集一组包含多步相移条纹的初始图像；根据该组初始图像，计算得到覆盖整个场景的调制度图像M和最大灰度值图像； S2、将调制度图像的所有像素点根据其调制度值划分为多个区域，将每个区域中像素所对应的最大灰度值图像中的灰度值进行校正，使用像素局部邻域的信息熵作为像素的权重，计算每个区域的加权平均灰度值； S3、根据每个区域的加权平均灰度值、预设的理想灰度值和初始曝光时间，计算出各个区域的最优曝光时间； S4、利用至少两个区域的最优曝光时间分别作为长曝光时间和短曝光时间，进行条纹图像的采集，得到高曝光图像集和低曝光图像集，分别计算相应的高曝光调制度图和低曝光调制度图； S5、根据高曝光图像集的灰度值分布，自适应地计算当前场景的过曝光阈值，对当前场景中的每一个像素点，根据其是否在高曝光图像集中过曝以及其在高曝光调制度图和低曝光调制度图中的调制度大小，计算其在高、低曝光图像集之间的融合权重；应用该融合权重，将高曝光图像集和低曝光图像集进行加权平均，生成最终融合条纹图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉工程大学，其通讯地址为：430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。