清华大学深圳国际研究生院董宇涵获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉清华大学深圳国际研究生院申请的专利基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121217228B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511746804.0，技术领域涉及：H04B10/079；该发明授权基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法及系统是由董宇涵;林佳明;刘双赫;王陆;张立妍;刘振宇;关迅;宋健设计研发完成，并于2025-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法及系统。该方法通过对水平面上发光阵列的方位角辐照度包络进行等角采样，并对采样数据执行傅里叶分解，得到各阶傅里叶系数；进而计算各阶谐波能量及其归一化值，并在预定的低阶谐波集合上累加归一化谐波能量，以此计算谐波圆度。将该谐波圆度与预设门限比较，若未达标，则依据降低低阶谐波能量的规则调整阵列几何布局和或功率配重，并通过迭代优化直至达标，最终将优化参数作为验收与维护基准。相应系统包括辐照度包络采集、频谱变换、谐波计算、谐波圆度计算、阈值判定、低阶抑制优化及标定自校准模块。本发明实现了对覆盖不均匀性的可量化抑制与长期维护。
本发明授权基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于谐波圆度的覆盖一致性度量与优化方法，其特征在于，包括以下步骤： S1.在水平面上对发光阵列的方位角辐照度包络进行等角采样； S2.对所述辐照度包络的采样数据进行傅里叶分解，得到各阶傅里叶系数，并基于所述傅里叶系数计算各阶谐波能量以及归一化谐波能量； S3.在预定的低阶谐波集合上累加所述归一化谐波能量，计算谐波圆度； S4.将所述谐波圆度与预设门限值进行比较，若所述谐波圆度低于所述门限值，则根据降低低阶谐波能量的准则调整所述发光阵列的几何布局和或功率配重； S5.重复步骤S1至S4，直至所述谐波圆度达到或超过所述门限值，并将最终调整参数作为验收与维护基准。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人清华大学深圳国际研究生院，其通讯地址为：518055 广东省深圳市南山区桃源街道丽水路2279号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励