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龙图腾网获悉深圳大学申请的专利一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121185740B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511741285.9，技术领域涉及：G01N3/06；该发明授权一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置及方法是由朱建波;谢骋丞;谢和平;周韬;暴伟越;张世威;岑卓;贺琦;王康宇;王思力;梁林胜;丁文多;张孔伟设计研发完成，并于2025-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置及方法。采用加载装置对试样进行动态加载，在未进行加载的轴向设置两个激光测量系统。方法中，步骤1：加载与测量过程、测量数据说明；步骤2：基于双面八点对称式布置的测量方案，提出对于X轴动态离面变形值的计算方法。本发明提供了动态加载条件下的精准测量新范式，凭借激光多普勒微秒级动态响应与纳米级精度的性能，结合对称测点布局通过数学原理消除绝对位移的干扰，从原理层面重构了复杂动力扰动下动态变形测量的技术路径，实现了动态真三轴加载下微元体三维动态变形测量。

本发明授权一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种针对动态真三轴系统的微元体三维动态变形测量装置，其特征在于：包括加载装置001及试样300，所述加载装置001为动态真三轴电磁霍普金森杆系统，采用加载装置001对试样300进行动态加载，在未进行加载的轴向设置两个激光测量系统，以X轴为例：在X轴上设置X+激光测量系统201和X-激光测量系统202，在试样300上布置测点，试样300中心点处分别对称布置试样X+中间测量点位406和试样X-中间测量点位402，再基于三点定面的原则，分别在X+和X-方向布置试样X+上测量点位405、试样X+右下测量点位407和试样X+左下测量点位408，试样X-上测量点位401、试样X-左下测量点位403和试样X-右下测量点位404，其中X+激光测量系统201用于测量试样300在X+方向的变形信息，X-激光测量系统202用于测量试样300在X-方向的变形信息；X+激光测量系统201设有测量试样X+上测量点位405的X+激光测量系统上点位测量激光204、测量试样X+中间测量点位406的X+激光测量系统中间点位测量激光205、测量试样X+左下测量点位408的X+激光测量系统左下点位测量激光206和测量试样X+右下测量点位407的X+激光测量系统右下点位测量激光207；X-激光测量系统202设有测量试样X-上测量点位401的X-激光测量系统上点位测量激光、测量试样X-中间测量点位402的X-激光测量系统中间点位测量激光、测量试样X-左下测量点位403的X-激光测量系统左下点位测量激光和测量试样X-右下测量点位404的X-激光测量系统右下点位测量激光；试样X+中间测量点位406周围的试样X+上测量点位405、试样X+右下测量点位407和试样X+左下测量点位408三个测点以等边三角形的形式分布于试样X+中间测量点位406周围，等边三角形的形心与试样X+中间测量点位406重合，试样X-中间测量点位402周围的试样X-上测量点位401、试样X-左下测量点位403和试样X-右下测量点位404三个测点以等边三角形的形式分布于试样X-中间测量点位402周围，等边三角形的形心与试样X-中间测量点位402重合；试样X+中间测量点位406周围的三个测点与试样X-中间测量点位402周围的三个测点一一对应设置，两个一一对应设置的测点的连线平行于X轴。

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