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龙图腾网获悉多场低温科技(北京)有限公司申请的专利低温闭环扫描控制方法、系统及低温闭环扫描装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121114019B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511651748.2，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权低温闭环扫描控制方法、系统及低温闭环扫描装置是由苏丹;邢健;邓璟姬设计研发完成，并于2025-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本低温闭环扫描控制方法、系统及低温闭环扫描装置在说明书摘要公布了：本发明公开了低温闭环扫描控制方法、系统及低温闭环扫描装置，涉及闭环扫描调控技术领域。该低温闭环扫描控制方法，通过在待测样品扫描过程中，实时获取电容传感器输出的台面实时位置数据，基于预设的位置‑电压映射算法，将获取的实时位置偏差转换为对应的控制电压值并对压电陶瓷进行驱动，同时，实时采集压电陶瓷形变量与压电扫描台所需位移量的匹配关系，动态调整驱动参数，以确保压电陶瓷的形变能精准转化为台面所需的位移输出，之后，接收电容传感器反馈的台面实时位移数据，同时对闭环控制过程中控制策略有效性进行量化评估，以提高扫描控制过程中动态响应效率，并进行闭环反馈，解决了现有技术中低温环境下闭环扫描控制稳定性低的问题。

本发明授权低温闭环扫描控制方法、系统及低温闭环扫描装置在权利要求书中公布了：1.低温闭环扫描控制方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、在待测样品扫描过程中，实时获取电容传感器输出的台面实时位置数据，同时基于预设的位置-电压映射算法将获取的实时位置偏差转换为对应的控制电压值，以生成驱动压电陶瓷的电压控制信号，所述台面实时位置数据用于反映当前台面实际所处的空间位置，所述实时位置偏差用于反映当前台面实际位置与目标位置之间的差距； S2、实时采集压电陶瓷形变量与压电扫描台所需位移量的匹配关系，动态调整驱动参数，以确保压电陶瓷的形变能精准转化为台面所需的位移输出，所述压电陶瓷形变量表示压电陶瓷在电压控制信号下产生的伸缩或弯曲变形量，所述驱动参数包括高压放大电路的放大倍数与电容传感器的测量增益； S3、接收电容传感器反馈的台面实时位移数据，同时对闭环控制过程中对应压电陶瓷与铰链组合的控制策略有效性进行量化评估，以提高低温闭环扫描控制过程中的动态响应效率，所述台面实时位移数据表示经过金属柔性铰链传递放大后的实际位移结果。

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