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龙图腾网获悉泉州装备制造研究所申请的专利一种不规则晶体实时尺寸测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121074060B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511635411.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种不规则晶体实时尺寸测量方法是由王森林;吴志芳;郭明哲;骆炜;陈豪;陈松航设计研发完成，并于2025-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种不规则晶体实时尺寸测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及直拉法晶体测量领域，具体涉及一种不规则晶体实时尺寸测量方法，包括如下依次执行的步骤：S1：实时获取晶体生长视频，将该晶体生长视频逐帧转成图像，对各图像进行过灰度处理，获得灰度数据集；S2：从该灰度数据集中选出长轴图像和短轴图像作为训练集；S3：基于Scharr算子和多次邻域迭代补全策略对该训练集进行边缘检测，获取各个图像的边缘特征图；S4：采用改进的RANSAC算法对步骤S3提取的所述边缘特征图进行椭圆拟合；S5：根据椭圆的模型参数生成晶体横截面图像，输出该晶体截面图像的长轴和短轴数据；提升了晶体质量监控的准确性与生产效率。

本发明授权一种不规则晶体实时尺寸测量方法在权利要求书中公布了：1.一种不规则晶体实时尺寸测量方法，其特征在于：包括如下依次执行的步骤： S1：实时获取晶体生长视频，将该晶体生长视频逐帧转成图像，对各图像进行过灰度处理，获得灰度数据集； S2：选定该灰度数据集中各灰度图像中的固定行区域作为关注区域，选取预设帧数的灰度图像，并计算各个灰度图像的关注区域的像素灰度值均值，选取像素灰度值均值最低的灰度图像作为参考帧，计算当前帧相对于该参考帧的位置和对应角度，根据该参考帧的对应角度以及预设的长轴垂直视线区间和短轴垂直视线区间，从该灰度数据集中选出长轴图像和短轴图像作为训练集； S3：基于Scharr算子和多次邻域迭代补全策略对该训练集进行边缘检测，获取各个图像的边缘特征图； S4：采用改进的RANSAC算法对步骤S3提取的所述边缘特征图进行椭圆拟合，具体拟合步骤如下： S4-1：以该边缘特征图的每一个边缘像素的坐标作为样本点集，以该样本点集的均值作为几何中心； 计算每个样本点相对于该几何中心的极角，从而将该样本点集投影到极坐标空间中，将该样本点集划分成多个互不重叠的角度子集； 计算各样本点到该几何中心的径向距离，从各个角度子集中选取径向距离与径向距离中位数差值位于预设范围阈值的代表性点分别构建第一采样点集； S4-2：在每一次RANSAC迭代中，从每个第一采样点集中均匀随机选取若干点作为拟合采样点； 根据该拟合采样点拟合椭圆模型； 计算所有该拟合采样点到该椭圆模型的距离，判断内点集合； S4-3：采用如下公式计算动态距离阈值： ； 其中，为动态阈值，为初始阈值，为点集的标准差，为点集的密度，为晶体生长速率估计指标，、、为权重系数； 采用如下公式计算晶体生长速率： ； 其中，为提拉速度，为晶体旋转速度，为权重系数； 根据预设的动态距离阈值重新判定内点集合，更新内点数量和模型质量； S4-4：重复步骤S4-2和步骤S4-3进行多次迭代，记录内点最多且模型参数稳定的椭圆模型作为最终拟合结果，即获取椭圆的模型参数； S5：根据椭圆的模型参数生成晶体横截面图像，输出该晶体横截面图像的长轴和短轴数据。

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