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龙图腾网获悉上海东方算芯科技有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120994485B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511525169.3，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品是由张显磊;殷洪辉设计研发完成，并于2025-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品；方法包括：获取目标算子的包括多个芯片接口指令的算子代码，目标算子和基准算子具备相同的计算功能，芯片接口指令用于实现芯片的至少一项硬件操作，组合多个芯片接口指令的硬件操作用于实现计算功能；解析算子代码，得到芯片的机器码文件；获取测试数据，并将测试数据和机器码文件传输至芯片仿真设备，芯片仿真设备用于对测试数据执行机器码文件，得到目标算子针对测试数据的仿真计算结果；从芯片仿真设备获取仿真计算结果，并获取基准算子针对测试数据的基准计算结果；基于仿真计算结果和基准计算结果，生成芯片的测试结果。通过本申请，能够加快芯片测试进度。

本发明授权芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标算子的包括多个芯片接口指令的算子代码，其中，所述目标算子和基准算子具备相同的计算功能，所述芯片接口指令用于实现所述芯片的至少一项硬件操作，组合所述多个芯片接口指令的所述硬件操作用于实现所述计算功能； 解析所述算子代码，得到所述芯片的机器码文件； 获取测试数据，并将所述测试数据和所述机器码文件传输至芯片仿真设备，其中，所述芯片仿真设备用于对所述测试数据执行所述机器码文件，得到所述目标算子针对所述测试数据的仿真计算结果； 从所述芯片仿真设备获取所述仿真计算结果，并获取所述基准算子针对所述测试数据的基准计算结果； 基于所述仿真计算结果和所述基准计算结果，生成所述芯片的测试结果； 当所述测试结果为表征所述芯片验证通过的第一测试结果时，对所述机器码文件注入异常指令，得到目标机器码文件； 将所述目标机器码文件传输至所述芯片仿真设备，其中，所述芯片仿真设备用于对所述测试数据执行所述目标机器码文件，得到所述目标算子针对所述测试数据的目标仿真计算结果； 基于所述目标仿真计算结果和所述仿真计算结果，对所述芯片的容错能力进行分析，得到容错能力分析结果。

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