杭州御渡半导体科技有限公司吴登贝获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州御渡半导体科技有限公司申请的专利一种DC校准方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120849173B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511366823.0，技术领域涉及：G06F11/07；该发明授权一种DC校准方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备是由吴登贝;翟富祥;栾海平设计研发完成，并于2025-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种DC校准方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本发明涉及板卡校准技术领域，具体公开了一种DC校准方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备，通过计算动态权重因子，为每块数字板卡提供了精确的性能评估，基于此评估，构建的树状校准路径将单点校准升级为大规模并行裂变校准。系统根据权重高低为校准板卡分配不同数量的任务，此举不仅实现了资源的最优化配置、提高了校准效率，更能从源头上有效抑制误差传递，降低校准误差。最后，实时的监控与动态路径调整构成了闭环控制，能够即时隔离异常板卡，从而进一步巩固误差抑制效果，最终确保整个校准过程兼具高效率与高精度。
本发明授权一种DC校准方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种DC校准方法，其特征在于，所述方法包括： 计算每块数字板卡的动态权重因子；其中，所述动态权重因子基于所述数字板卡的精度系数和所述数字板卡的温度系数确定； 构建包括多个校准层级的树状校准路径，每个所述校准层级中的校准板卡用于为下一层级的待校准板卡提供校准基准； 在所述校准板卡处于正常工作状态下时，基于所述动态权重因子的大小为所述校准板卡分配相应数量的待校准板卡； 所述动态权重因子为W=α×S_acc+β×S_temp；其中，S_acc=1-最近校准误差0.1%，为精度系数；S_temp=1-|温漂系数|5ppm℃为温度系数，α和β为可调系数； 实时监控所述数字板卡，当检测到所述校准板卡处于异常工作状态时，调整校准路径。
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