买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉武汉理工大学申请的专利准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120764258B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510867501.8，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法是由徐辰;孙云松;毛义军设计研发完成，并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法在说明书摘要公布了：一种准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法，涉及声学领域。准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法在构建准零刚度和Helmholtz共振腔的组合结构后，分别构建反映准零刚度的结构参数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系的代理模型和反映吸声系数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系的解析模型，进而结合代理模型和解析模型预测准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构的吸声系数，能够快速高效的预测准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构的吸声系数，从而实现组合结构低频吸声性能与紧凑尺寸优化。

本发明授权准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法在权利要求书中公布了：1.一种准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构吸声系数预测方法，其特征在于，包括以下步骤： 构建准零刚度和Helmholtz共振腔的组合结构； 构建反映准零刚度的结构参数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系的代理模型；采用以下公式反映准零刚度的结构参数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系： ； 式中，z4为Helmholtz共振腔底板声阻抗率；p4为Helmholtz共振腔底板表面的声压，ρ0为空气密度，c0为空气声速，u4为Helmholtz共振腔底板的质点声振速；为准零刚度区间的两点之间的力之差，为准零刚度区间的两点之间的位移；S为Helmholtz共振腔底板面积；i为虚部单位；为声波角频率；为准零刚度区间的两点斜率； 构建反映吸声系数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系的解析模型；采用以下公式反映吸声系数与Helmholtz共振腔底板声阻抗率之间关系： ； 式中，α为入射声波为平面波时的吸声系数；R和X分别代表无量纲声阻抗率的声阻和声抗； 结合代理模型和解析模型预测准零刚度和Helmholtz共振腔组合结构的吸声系数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉理工大学，其通讯地址为：430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。