买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉湖北蓝图纸业有限公司申请的专利一种纸质识别检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120490124B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510736914.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种纸质识别检测方法是由涂剑飞;尹大全;尹桂鑫设计研发完成，并于2025-06-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种纸质识别检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于视觉检测领域，提出了一种纸质识别检测方法，该方法包括以下步骤：用卤素灯照射纸张表面并获取纸张表面的图像；对纸张表面的图像进行灰度化获取纸张灰度图；根据纸张灰度图获取污点杂质网格，并通过污点杂质网格获取杂质半径；通过杂质半径获取污渍显现长度；通过污渍显现长度筛选出真实污点网格，将每个真实污点网格的中心点与其对应的杂质半径的网格的中心点连接获得污点区域。根据本发明实施例的检测方法，可以在卤素光的条件下避免外部干扰的折射带来的污点误判，达成更精准的纸张污点的视觉检测。

本发明授权一种纸质识别检测方法在权利要求书中公布了：1.一种纸质识别检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： S100，用卤素灯照射纸张表面并获取纸张表面的图像； S200，对纸张表面的图像进行灰度化获取纸张灰度图； S300，根据纸张灰度图获取污点杂质网格，并通过污点杂质网格获取杂质半径； S400，通过杂质半径获取污渍显现长度；其中步骤S400包括：S401，获取杂质半径序列中所有杂质半径的标准差；S402，通过杂质半径序列中所有杂质半径的标准差对杂质半径序列进行内部归类；杂质半径小于等于PTM减标准差的值的归类为第一杂质半径范围PTF1；杂质半径大于平均值减标准差且小于平均值加标准差归类为第二杂质半径范围PTF2；杂质半径大于等于平均值加标准差归类为第三杂质半径范围PTF3；S403，通过第一杂质半径范围PTF1、第二杂质半径范围PTF2、第三杂质半径范围PTF3，计算第一杂质显现半径SYTTF1和第二杂质显现半径SYTTF2；S404，通过第一杂质显现半径SYTTF1和第二杂质显现半径SYTTF2计算污渍显现长度SD； S500，通过污渍显现长度筛选出真实污点网格，将每个真实污点网格的中心点与其对应的杂质半径的网格的中心点连接获得污点区域。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人湖北蓝图纸业有限公司，其通讯地址为：432000 湖北省孝感市经济开发区六合工业园1层(3#厂房)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。