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龙图腾网获悉深圳市安飞科触控科技有限公司申请的专利一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120451130B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510634811.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法是由卢念金;殷寒烟;路欢;马聪设计研发完成，并于2025-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及图像分析技术领域，具体为一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法，包括以下步骤：提取中心区域灰度序列，计算斜率生成趋势图，定位变化起点调整坐标，提取灰度差增强对比，分析亮暗跨度生成图谱，提取重心灰度判断差异输出检测方案。本发明中，通过多方向灰度序列斜率提取与波动聚集特征构建，强化对亮度趋势的细节捕捉，结合反向灰度变化起点定位与坐标偏移，提升异常区域定位精度，提取局部过渡带与跃变段，实现灰度波动分区增强，通过高灰度像素集合重心与局部起伏差异分析，精准识别亮度异常点，整体流程融合灰度趋势提取、变化轨迹调整、对比增强与重心分析等环节，强化检测敏感度与判定精度，适应屏幕亮度微差检测需求。

本发明授权一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于图像分析的手机屏幕均匀度检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：采集屏幕图像中分布均匀的中心区域，提取四方向灰度序列，计算相邻像素灰度差和变化斜率，提取方向变化位置，统计斜率幅度分布，构造集中度比值，组合生成灰度趋势分布图像； S2：基于所述灰度趋势分布图像的变化方向，提取斜率序列，在反向减缓段中获取变化起始点，计算中心像素轨迹差并调整坐标，生成像素分布轮廓图； S3：基于所述像素分布轮廓图，提取图块灰度差，统计局部空间梯度，识别方向一致、波动频繁的过渡带，标记为对比增强区，并叠加灰度差，生成图块对比增强图层； S4：读取所述图块对比增强图层中每块区域的边缘灰度区带，提取亮暗变化起止坐标，计算并排序亮度跨度，按区域索引分组并排序，生成亮度跃变片段图谱； S5：调用所述亮度跃变片段图谱中亮度跨度的图像区域，提取坐标并计算几何重心与灰度值，结合亮度起伏范围判断差异，生成手机屏幕均匀度检测方案； S3的具体步骤为， S301：基于所述像素分布轮廓图中的图像边界，对图像图块提取当前像素与邻近像素在水平与垂直方向上的灰度值，计算灰度差，并按坐标归类，生成图块灰度差值集合； S302：根据所述图块灰度差值集合，统计图块中差异化方向上的差值位置，提取连续梯度幅度变化区段，标记灰度波动频率超过方向均值的连续区域，获取灰度过渡标记区域； S303：调用所述灰度过渡标记区域中灰度差值，对连续灰度区段进行累加处理，并将累加结果叠加至原图块位置，生成图块对比增强图层； 所述灰度差计算公式具体为： ； 其中，代表图像中坐标为处像素的局部灰度差值，代表当前像素的灰度值，代表其正下方处像素的灰度值，代表当前像素的水平灰度采样值，代表其右侧处像素的灰度值，代表其正上方的灰度对比值，代表其左侧的灰度对比值，代表绝对值运算符，为常数偏移项； S5的具体步骤为， S501：调用所述亮度跃变片段图谱中所有亮度跨度区域，提取区域内灰度值高于局部亮度平均水平的像素点，并记录坐标位置，生成亮度偏强像素坐标集； S502：根据所述亮度偏强像素坐标集，计算亮度偏强像素点坐标相对重心的加权偏移值，并提取坐标对应的灰度值，得到亮点重心灰度值； S503：调用所述亮点重心灰度值，对所在区域灰度值集合进行差异计算，判断差值是否超过亮度波动范围阈值，建立手机屏幕均匀度检测方案； 所述亮度偏强像素点坐标相对重心的加权偏移值计算公式具体为： ； 其中，代表亮度偏强像素点坐标相对重心的加权偏移值，代表第个亮度偏强像素点的横向坐标值，代表第个亮度偏强像素点的纵向坐标值，代表所有亮度偏强像素点的横向坐标平均值，代表所有亮度偏强像素点的纵向坐标平均值，代表第个像素点的灰度值，代表所有亮度偏强像素点的灰度平均值，代表第个像素点在坐标分布中的加权因子，代表亮度偏强像素点的总数量。

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