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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120334189B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510449479.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法是由王飞;刘俊岩;岳卓言;丁夏利;斯法拉·斯特凡诺;王永辉;宋鹏;孟祥林;杨飞;陆一凡;赵勇;马思齐;岳洪浩设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法在说明书摘要公布了：一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法，它涉及一种光热调制差分显微成像方法。本发明为了解决目前光热显微成像技术受限于衍射极限，无法突破最小分辨率限制的问题。本发明的步骤包括步骤1、明确待检测样件，将样件放置于光热调制差分显微成像系统中；步骤2、开启光热调制差分显微成像系统；步骤3、开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器；步骤4、在计算机中的光热调制差分显微成像系统软件中设置检测参数；步骤5、选取金纳米颗粒作为成像对象，进行多次检测；步骤6、采用多臂碳纳米管作为样品，进行多次检测；步骤7、实验结束5分钟后关闭设备。本发明属于光热科学与探测信号处理技术领域。

本发明授权一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双激发光激励的光热调制差分显微成像方法，其特征在于，具体步骤包括： 步骤1、明确待检测样件，将样件放置于光热调制差分显微成像系统中； 步骤2、开启光热调制差分显微成像系统； 步骤3、开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器； 步骤4、在计算机中的光热调制差分显微成像系统软件中设置检测参数； 采用两束频率相同、相位相反调制的高斯激发光与中空激发光同时作用于样品进行成像； 光强调制变化的高斯激发光的点扩散函数与中空激发光点扩散函数分别用PSFG-heating和PSFD-heating表示，具体定义如公式1、公式2所示；合束后的调制激发光点扩散函数PSFcombined看成是PSFG-heating和PSFD-heating相加，由于PSFG-heating和PSFD-heating在焦点横向截面上光强分布的差异，将合束点扩散函数划分成i，ii两个区域，在i区域内，高斯点扩散函数的光强大于中空点扩散函数，因此合束后调制部分的相位与高斯光保持一致；而在ii区域内，中空点扩散函数的光强更强，此时合束后调制部分相位与中空光保持一致； 将中空光束与高斯光束的功率比值用差分系数γ表示，得出合束后的调制激发光点扩散函数PSFcombined为公式3；将光热显微成像的幅值作为光热信号，考虑到幅值的非负性，得出光热调制差分显微成像点扩散函数PSFMDPT为公式4； 1 2 3 4 公式1、2、3和4中，PSFGaussian表示高斯光束聚焦点扩散函数，PSFDoughnut表示中空光束聚焦点扩散函数，ω表示调制角频率；φ表示初始相位； 步骤5、选取金纳米颗粒作为成像对象，采用玻片样品形式，进行多次检测，计算机从数据采集卡读取各点信号处理后获得检测结果图像，将检测结果汇总，得到纳米颗粒团簇的光热显微图像； 步骤6、采用多臂碳纳米管作为样品，采用玻片样品形式，进行多次检测，计算机从数据采集卡读取各点信号处理后获得检测结果图像，将检测结果汇总，得到碳纳米管团簇的光热显微图像； 步骤7、试验结束后，间隔5分钟后，关闭激光器电源、函数发生器、锁相放大器、数据采集卡、振镜控制器以及计算机。

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