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龙图腾网获悉深圳晶源信息技术有限公司申请的专利设计规则检查工具的验证方法、装置、设备、介质及产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119443040B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411561756.3，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权设计规则检查工具的验证方法、装置、设备、介质及产品是由陈新梅设计研发完成，并于2024-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本设计规则检查工具的验证方法、装置、设备、介质及产品在说明书摘要公布了：本申请公开了一种设计规则检查工具的验证方法、装置、设备、介质及产品，涉及芯片版图的检查技术领域。该设计规则检查工具的验证方法包括：根据芯片版图设计规则检查工具的工具属性，构建与工具属性对应的测试布局层次，工具属性用于表征芯片版图设计规则检查工具能够处理的芯片布局层次的特征；根据芯片版图对应的版图设计规则中包括的各版图设计参数，创建每个版图设计参数在测试布局层次下对应的多条测试用例，版图设计规则用于表征对芯片版图的设计内容的强制性规定集合；通过芯片版图设计规则检查工具分别执行各测试用例，确定芯片版图设计规则检查工具的工具可靠性。

本发明授权设计规则检查工具的验证方法、装置、设备、介质及产品在权利要求书中公布了：1.一种设计规则检查工具的验证方法，其特征在于，包括： 根据芯片版图设计规则检查工具的工具属性，构建与所述工具属性对应的测试布局层次，所述工具属性用于表征所述芯片版图设计规则检查工具能够处理的芯片布局层次的特征； 根据芯片版图对应的版图设计规则中包括的各版图设计参数，创建每个所述版图设计参数在所述测试布局层次下对应的多条测试用例，所述版图设计规则用于表征对所述芯片版图的设计内容的强制性规定集合，所述多条测试用例为真实用例或拓展用例； 通过所述芯片版图设计规则检查工具分别执行各所述测试用例，确定所述芯片版图设计规则检查工具的工具可靠性； 所述根据芯片版图对应的版图设计规则中包括的各版图设计参数，创建每个所述版图设计参数在所述测试布局层次下对应的多条测试用例，包括：在所述多条测试用例为所述拓展用例的情况下，将目标版图设计参数的参数值依次设置为多个有效值，将参考版图设计参数的参数值设置为预设默认值，构成所述目标版图设计参数在所述测试布局层次下对应的多条拓展用例，所述目标版图设计参数为各所述版图设计参数中的任意一个，所述参考版图设计参数为所述版图设计规则对应的各版图设计参数中除所述目标版图设计参数之外的版图设计参数。

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