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龙图腾网获悉西安电子科技大学;琶洲实验室(黄埔)申请的专利面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119048722B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411175553.0，技术领域涉及：G06V10/141；该发明授权面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法、装置及设备是由马居坡;刘贤良;贾耀强;吴金建;石光明设计研发完成，并于2024-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法、装置及设备。方法包括：通过对事件流图像数据进行有效帧过滤，使得后续处理数据能够集中在完整成像的数据帧；依据预训练缺陷检测模型对事件流过滤数据进行缺陷检测，得到第一检测结果，预训练缺陷检测模型为基于多个照明位置获取的训练事件流数据训练得到，其次，对第一检测结果依次进行误检过滤和虚警过滤处理，使得最终得到的第三检测结果尽可能为真实缺陷，最终根据第三检测结果确定最终照明参数，由于只需要训练一次模型且确定最终照明参数时只需要根据第三检测结果计算即可，避免了针对各个模型逐一设计验证集以确定最优照明，进而提高了照明参数的确定效率，降低了计算成本。

本发明授权面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种面向铝基盘片缺陷检测的照明参数确定方法，其特征在于，包括： 对预设铝基盘片在不同照明位置，生成对应的事件流图像数据；所述预设铝基盘片包括：缺陷铝基盘片和标准铝基盘片； 采用目标检测算法确定所述事件流图像数据中铝基盘片的边界框和中心坐标，通过所述边界框对所述事件流图像数据进行有效帧过滤，得到事件流过滤数据； 根据预训练缺陷检测模型对所述事件流过滤数据进行缺陷检测，得到第一检测结果； 基于所述中心坐标对所述第一检测结果进行误检过滤处理，得到第二检测结果；其中，所述基于所述中心坐标对所述第一检测结果进行误检过滤处理，得到第二检测结果，包括： 计算所述中心坐标与所述第一检测结果中的所述缺陷位置的距离，得到第一距离； 将所述第一距离满足预设距离条件的所述第一检测结果进行保留，得到所述第二检测结果；所述预设距离条件为距离大于内圆半径且小于所述预设铝基盘片半径；所述内圆半径为所述预设铝基盘片的内圆半径； 基于连续追踪缺陷的虚警判断算法对所述第二检测结果进行虚警过滤处理，得到第三检测结果；其中，所述基于连续追踪缺陷的虚警判断算法对所述第二检测结果进行虚警过滤处理，得到第三检测结果，包括： S201、为所述第二检测结果中的初始帧对应的缺陷边界框初始化对应的追踪器，并将所述初始帧中的缺陷边界框的中心坐标作为所述追踪器的坐标； S202、将所述第二检测结果中当前帧对应的缺陷边界框与所述当前帧之前的所有追踪器进行匹配处理，得到匹配结果； S203、当所述匹配结果为成功匹配时，则将匹配的追踪器进行坐标更新，并将匹配的追踪器的检测次数加一，作为当前检测次数； S204、当所述匹配结果为匹配失败时，则为当前帧对应的缺陷边界框初始化对应的追踪器； S205、重复执行S202-S204直到第二检测结果中的所有图像帧，均完成匹配处理； S206、将所述当前检测次数大于设定阈值的追踪器所对应的缺陷边界框判定为真实缺陷，并将所述真实缺陷作为所述第三检测结果； 依据所述第三检测结果进行照明质量评估处理，得到照明评估结果，并根据所述照明评估结果确定最终照明参数；所述预训练缺陷检测模型为基于多个照明位置获取的训练事件流数据训练得到。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学;琶洲实验室(黄埔)，其通讯地址为：710071 陕西省西安市太白南路2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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