爱芯元智半导体(上海)有限公司刘建伟获国家专利权
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龙图腾网获悉爱芯元智半导体(上海)有限公司申请的专利单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116543381B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310452207.1,技术领域涉及:G06V20/64;该发明授权单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备是由刘建伟设计研发完成,并于2023-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备在说明书摘要公布了:本公开提出一种单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备,该方法包括:获取候选检测框的检测输出信息和相机内参,其中,检测输出信息包括:与候选检测框对应的候选类别置信度、像素中心坐标、深度信息、尺寸信息,以及旋转角度,根据相机内参、像素中心坐标、深度信息和尺寸信息,生成与候选检测框对应的二维包络框,根据二维包络框、深度信息和旋转角度,确定多个候选检测框之间的三维重叠度,根据候选类别置信度和像素中心坐标,确定与候选检测框对应的候选质量值,根据候选质量值和三维重叠度,从多个候选检测框中确定目标检测框,由此,可以实现后处理计算过程的解耦,以减少计算开销,有效提升所得目标检测框的准确性和实时性。
本发明授权单目三维目标检测后处理方法、装置和电子设备在权利要求书中公布了:1.一种单目三维目标检测后处理方法,其特征在于,包括: 获取候选检测框的检测输出信息和相机内参,其中,所述检测输出信息包括:与所述候选检测框对应的候选类别置信度、像素中心坐标、深度信息、尺寸信息,以及旋转角度; 根据所述相机内参、所述像素中心坐标、所述深度信息和所述尺寸信息,生成与所述候选检测框对应的二维包络框; 根据所述二维包络框、所述深度信息和所述旋转角度,确定多个所述候选检测框之间的三维重叠度; 根据所述候选类别置信度和所述像素中心坐标,确定与所述候选检测框对应的候选质量值; 根据所述候选质量值和所述三维重叠度,从多个所述候选检测框中确定目标检测框; 其中,所述根据所述二维包络框、所述深度信息和所述旋转角度,确定多个所述候选检测框之间的三维重叠度,包括: 根据所述二维包络框,确定多个所述候选检测框之间的二维重叠度; 根据所述深度信息,确定多个所述候选检测框之间的深度相似值; 根据所述旋转角度,确定多个所述候选检测框之间的角度相似值; 根据所述二维重叠度、所述深度相似值和所述角度相似值,确定所述三维重叠度; 其中,所述根据所述候选类别置信度和所述像素中心坐标,确定与所述候选检测框对应的候选质量值,包括: 确定所述候选检测框对应待检测对象的第一中心坐标; 根据所述像素中心坐标和所述第一中心坐标,确定所述候选检测框的候选中心置信度; 根据所述候选类别置信度和所述候选中心置信度,确定所述候选质量值。
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