上海联影医疗科技股份有限公司周铖龙获国家专利权
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龙图腾网获悉上海联影医疗科技股份有限公司申请的专利X射线探测器、探测方法及X射线成像设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116262047B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111539753.6，技术领域涉及：A61B6/03；该发明授权X射线探测器、探测方法及X射线成像设备是由周铖龙设计研发完成，并于2021-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本X射线探测器、探测方法及X射线成像设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种X射线探测器、探测方法及X射线成像设备，X射线探测器包括至少复数层探测单元阵列，所述复数层探测单元阵列包括第一层探测单元阵列和第二层探测单元阵列；第一层探测单元阵列对于X射线具有第一反应截面，第二层探测单元阵列对于X射线具有第二反应截面，第一反应截面大于或小于第二反应截面。如此，使得X光子可在离X光发射源相对较近的探测单元阵列上以发生康普顿散射为主，而在离X光发射源相对较远的探测单元阵列上以发生光电效应为主，进而可根据每一层探测单元阵列探测到的X光子的径迹与X光发射源的位置关系，确定出入射的X光子的主射线；以及计算每一层探测单元阵列探测到的为主射线的X光子的总能量，完成能谱探测。
本发明授权X射线探测器、探测方法及X射线成像设备在权利要求书中公布了：1.一种进行能谱探测的方法，其特征在于，包括： 提供一X射线探测器，所述X射线探测器包括复数层探测单元阵列，且所述复数层探测单元阵列沿设定方向并排设置；所述复数层探测单元阵列包括第一层探测单元阵列和第二层探测单元阵列；所述第一层探测单元阵列相较所述第二层探测单元阵列更靠近X光发射源，所述第一层探测单元阵列对于X射线具有第一反应截面，所述第二层探测单元阵列对于X射线具有第二反应截面，所述第一反应截面大于所述第二反应截面，以使得X光子可在离X光发射源相对较近的所述探测单元阵列上以发生康普顿散射为主，而在离X光发射源相对较远的所述探测单元阵列上以发生光电效应为主；根据每一层探测单元阵列探测到的X光子的径迹与所述X光发射源的位置关系，确定出入射的X光子的主射线； 计算每一层所述探测单元阵列探测到的入射的X光子的主射线的总能量，以得到投影数据； 根据所述投影数据重建检测对象的能谱图像。
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