先进半导体材料(深圳)有限公司韩浩获国家专利权
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龙图腾网获悉先进半导体材料(深圳)有限公司申请的专利引线框架的瑕疵检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116242830B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111491562.7，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权引线框架的瑕疵检测方法是由韩浩;温明;何志聪;陈达志设计研发完成，并于2021-12-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本引线框架的瑕疵检测方法在说明书摘要公布了：一种引线框架的瑕疵检测方法，包括：提供标准模板图像、初始偏差范围和n个引线框架，所述n是自然数；基于所述标准模板图像、初始偏差范围和n个引线框架进行若干次偏差范围迭代调试，获取第一偏差范围。所述方法能够减少生产过程中，引线框架瑕疵检测时误报的瑕疵，改善对于良品的引线框架的过杀情况，提高设备检测速度、生产效率和良品率。
本发明授权引线框架的瑕疵检测方法在权利要求书中公布了：1.一种引线框架的瑕疵检测方法，其特征在于，包括： 提供标准模板图像、初始偏差范围和m个引线框架，所述m是自然数； 基于所述标准模板图像、初始偏差范围和m个引线框架进行若干次偏差范围迭代调试，获取第一偏差范围，且第n次偏差范围迭代调试的方法包括： 根据第n个引线框架，获取与所述标准模板图像对应的第n源图像； 根据所述第n源图像、标准模板图像和第n-1次的第一偏差范围检测第n瑕疵，获取与每个第n瑕疵对应的第n瑕疵数据，且当n=1时，所述第n-1次的第一偏差范围为所述初始偏差范围； 根据若干第n瑕疵数据，获取第n瑕疵误报率，所述第n瑕疵误报率是指误报的第n瑕疵的数量，在检测到的全部第n瑕疵的数量中所占的比例； 当所述第n瑕疵误报率大于预设误报率时，根据误报的若干第n瑕疵对应的若干第n瑕疵数据和预设放宽参数，对所述第n-1次的第一偏差范围进行扩大以生成第n次的第一偏差范围。
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