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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第五十四研究所申请的专利一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116155407B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310011381.2，技术领域涉及：H04B17/15；该发明授权一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法是由刘鹏;崔臣臣;孙宇凯;王尧;王志浩;王君从;岳红维;马迅;王康;胡美玲;刘长龙;崔海龙;陈丹熠;田爱国设计研发完成，并于2023-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法在说明书摘要公布了：本发明属于集成电路测试领域，目的是针对射频识别芯片提供一种基于ATE的电特性测试方法。具体发明内容包括反向链路频率自动调整算法、初始化数据格式自动转换算法、ID号自动编排灌注算法、加密数据格式自动转换算法和射频功能验证用协议算法等5种算法模块。该方法可以同时满足射频识别芯片的数字逻辑模块和射频模块两部分的测试，在不需添加任何外围协议模块的情况下，针对不同通信协议标准的射频识别芯片，只利用ATE通用数字板卡、射频板卡和模拟板卡外加相应编程算法便可以完成其电特性参数的测试，使得数字逻辑功能和射频功能的测试一次性完成，具有节约测试套件成本、节约测试时间、针对不同通信协议标准的方便易修改等优点。

本发明授权一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于ATE的射频识别芯片的电特性测试方法，其特征在于，具体包括以下步骤： 步骤S1，产生首次激励信号，根据首次激励信号按照射频识别待测芯片所应用的通信协议格式生成激励格式信号，发送至射频识别待测芯片；并根据射频识别待测芯片的返回激励格式信号测试Frequency值，根据Frequency值调整激励格式信号，直到Frequency值调整到目标区间内，反向链路频率调节完成； 步骤S2，反向链路频率调节完成后，根据初始化要求生成初始化二进制数据，并进行分割，将分割数据末尾嫁接上地址后对应发送至射频识别待测芯片的各地址中；并对射频识别待测芯片返回的数据进行判别，当返回数据全部满足判据要求时初始化成功； 步骤S3，初始化成功后，根据探针台的探针移动坐标，并利用ID号的编制规则生成射频识别待测芯片的ID号数据，灌注到对应的射频识别待测芯片中，并根据射频识别待测芯片返回的信号判断ID号灌注是否成功； 步骤S4，ID号灌注成功后，按照射频识别待测芯片的加密固化要求将源加密数据进行格式转换，生成特定格式的加密数据发送至射频识别待测芯片；射频识别待测芯片接收到加密数据后对初始化数据和ID号进行加密固化并返回信号，通过解析返回信号判断加密固化是否成功； 步骤S5，加密固化成功后，向射频识别待测芯片发射射频信号，并分析判断射频识别待测芯片所返回射频信号的功能，验证步骤S1至S4对射频识别待测芯片的操作是否正确完成。

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