中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王帅会获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115984353B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211501772.4,技术领域涉及:G06T7/60;该发明授权一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法是由王帅会;张春悦;鞠国浩设计研发完成,并于2022-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法在说明书摘要公布了:一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法,涉及光学检测领域,本发明包括:采集包含色散条纹的原始粗共相图像;将原始粗共相图像变换为一维图像;根据一维图像的极大值和极小值所对应的坐标值提取色散条纹;计算出色散条纹斜率。本发明能有效克服因微透镜阵列所导致的粗共相图像中无关的干扰色散条纹对于粗共相调整阶段的影响,能够精确定位并提出感兴趣区域的色散条纹,同时计算出该感兴趣区域的色散条纹斜率,解决了色散条纹难以实现精确定位和提取的技术难题,作为实现色散条纹法的必要前提,本发明能够极大地提高后续色散条纹法的精度,即接式主镜结构中的各子镜之间的共相位调整精度,可为后续色散条纹法的高精度调整提供有利保障。
本发明授权一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法在权利要求书中公布了:1.一种色散条纹自动定位提取与斜率精确计算方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S1:采集包含色散条纹的原始粗共相图像; 步骤S2:将原始粗共相图像变换为一维图像; 步骤S3:根据一维图像的极大值和极小值所对应的坐标值提取色散条纹; 步骤S3.1:对一维图像进行平滑滤波处理; 步骤S3.2:计算滤波处理后的一维图像的极大值Vmax和极小值Vmin,保存极大值Vmax所对应的坐标值Xmax和极小值Vmin所对应的坐标值Xmin; 步骤S3.3:从原始粗共相图像中提取坐标值Xmax所对应的图像行并对其进行平滑滤波处理; 步骤S3.4:计算滤波处理后的图像行的极大值个数,所含有的极大值个数最多的图像行即为色散条纹的中心行,此色散条纹的中心行对应的极大值所对应的坐标值为Xcenter; 步骤S3.5:将坐标值Xmin与坐标值Xcenter进行比较,当满足以下关系时:XminiXcenterXmini+1,Xmini和Xmini+1分别为一维图像下限行和上限行所对应的坐标值,i=0…n-1,n为一维图像的极小值Vmin个数,则原始粗共相图像中一维图像下限行与一维图像上限行之间的区域即为所提取的色散条纹图像; 步骤S4:计算色散条纹的斜率; 步骤S4.1:获取色散条纹图像中的色散条纹连通域; S4.1.1:对所获得的色散条纹图像进行二值化处理; S4.1.2:对二值化处理后的色散条纹图像获取色散条纹连通域; 步骤S4.2:获取色散条纹连通域中的色散条纹中心线; 步骤S4.2.1:获取色散条纹连通域最小外接矩形; 步骤S4.2.2:提取色散条纹连通域最小外接矩形对应区域; 步骤S4.2.3:提取色散条纹连通域最小外接矩形对应区域中的色散条纹中心线; 步骤S4.3:利用最小二乘法获取色散条纹中心线斜率; 步骤S4.4:计算色散条纹的最终斜率; 步骤S4.4.1:重复步骤S4.1-步骤S4.3,获取所有色散条纹中心线斜率; 步骤S4.4.2:基于最小二乘法,利用所获取的所有色散条纹中心线斜率拟合出色散条纹的最终斜率。
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