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龙图腾网获悉上海盛相工业检测科技有限公司申请的专利一种多结构光投影的高度信息检测方法及检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115824065B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211426530.3，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种多结构光投影的高度信息检测方法及检测装置是由黄蒸设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多结构光投影的高度信息检测方法及检测装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多结构光投影的高度信息检测方法，包括以下步骤：将待测物置于相机的视野范围内，依次启动多个投影光源，获得多个高度信息矩阵M1～Mn；计算波峰亮度比例矩阵G1～Gn；计算波峰评分矩阵GS1～GSn，其中GSn＝GnMax{G1,G2,G3,G4…Gn}；计算高度差别矩阵D1～Dn；计算高度差别评分矩阵DS1～DSn；设定加权比例a、b，计算每个投影光源的高度质量评分矩阵S1～Sn，其中Sn＝a*GSn+b*DSn，a+b＝1；设定高度质量阈值T；取S1～Sn中大于等于T的高度信息矩阵的平均值，以获取目标高度信息矩阵。本发明还公开了一种多结构光投影的高度信息检测装置。本发明提出了适用性、完整性和准确性都更好的多结构光投影的高度信息检测方法及装置；保持高度的准确性。

本发明授权一种多结构光投影的高度信息检测方法及检测装置在权利要求书中公布了：1.一种多结构光投影的高度信息检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 将待测物置于相机的视野范围内，依次启动多个投影光源，获得对应的多个高度信息矩阵M1~Mn； 计算每个投影光源的波峰亮度比例矩阵G1~Gn；所述波峰亮度比例矩阵的计算方式为，每个像素的波峰亮度比例=相移条纹亮度最大值相移条纹亮度总和； 计算每个投影光源的波峰评分矩阵GS1~GSn，其中GSn=GnMax{G1,G2,G3,G4…Gn}； 计算每个投影光源的高度差别矩阵D1~Dn，其中D1=Min{|M1-M2|,|M1-M3|,|M1-M4|…|M1-Mn|}；其中Dm=Min{|Mm-M1|,|Mm-M2|,…,|Mm-Mm-1|,|Mm-Mm+1|,…,|Mm-Mn|}，m≠1，且m≠n；其中Dn=Min{|Mn-M1|,|Mn-M2|,…|Mn–Mn-1|}； 计算每个投影光源高度差别评分矩阵DS1~DSn，其中DSn=Min{D1,D2,D3,D4…Dn}Dn； 设定加权比例a、b，计算每个投影光源的高度质量评分矩阵S1~Sn，其中Sn=a*GSn+b*DSn，a+b=1； 设定高度质量阈值T； 取S1~Sn中大于等于T的高度信息矩阵的平均值，以获取目标高度信息矩阵。

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