广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;锐立平芯微电子(广州)有限责任公司朱伟获国家专利权
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龙图腾网获悉广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;锐立平芯微电子(广州)有限责任公司申请的专利芯片失效类型测试系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115421027B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211131152.6,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权芯片失效类型测试系统是由朱伟;张红丽;李彬鸿;赵星;叶甜春;王云设计研发完成,并于2022-09-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片失效类型测试系统在说明书摘要公布了:本申请提供了一种芯片失效类型测试系统,包括:检测装置,用于输出检测信号至待测芯片;处理装置,与检测装置通信连接,且与待测芯片通信电连接,处理装置用于至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试,并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型。该系统将处理装置与检测装置连接,通过处理装置至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试,并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型,实现芯片测试的自动化控制,进而解决了现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。
本发明授权芯片失效类型测试系统在权利要求书中公布了:1.一种芯片失效类型测试系统,其特征在于,包括: 检测装置,用于输出检测信号至待测芯片; 处理装置,与所述检测装置通信连接,且与所述待测芯片电连接,所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试,并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下,确定失效类型, 其中,所述处理装置包括:处理器,用于至少控制所述检测信号的所述测试频率和所述测试功率以对所述待测芯片进行所述测试,并在失效情况下,确定所述失效类型;监控装置,与所述处理器通信连接,用于根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效; 所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试,并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型,包括:获取频率区间和功率区间,所述频率区间以及所述功率区间是根据所述待测芯片确定的;依次对所述待测芯片进行至少一组所述测试,且一组所述测试中的所述测试频率相同,在所述测试有多组的情况下,任意两组所述测试的所述测试频率不同,一组所述测试中,多次所述测试的所述测试功率为所述功率区间中由小到大的多个功率;在确定所述待测芯片失效的情况下,控制所述检测装置停止向所述待测芯片输入所述检测信号,并根据预定动作和预定时间后所述待测芯片的所述输出信号,确定所述失效类型; 根据预定动作和预定时间后所述待测芯片的所述输出信号,确定所述失效类型,包括:在第一预定动作和第一预定时间后,所述监控装置获取所述待测芯片的所述输出信号,所述第一预定动作为控制所述监控装置复位;在所述监控装置根据所述输出信号确定所述待测芯片正常的情况下,所述处理器确定所述失效类型为第一失效类型;在所述监控装置根据所述输出信号确定所述待测芯片异常的情况下,根据第二预定动作和第二预定时间后,获取所述待测芯片的输出信号并确定所述失效类型,所述第二预定动作为控制所述待测芯片复位,并控制所述监控装置复位。
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