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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115358061B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210975176.3，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法是由张依轩;翦璋;焦永昌;张玉;赵勋旺设计研发完成，并于2022-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法，实现步骤为：获取线性阵列天线工作频率点的近场电场信号；构建等效源模型；获取关联系数矩阵；获取等效源基函数系数向量；获取线性阵列天线单切面的近场测量结果。本发明所构建的等效源模型为包括中心位于平面直角坐标系原点且沿线阵天线线性排列的M个等效源点的模型，相比于现有技术由线性等效源模型计算的关联系数矩阵所含元素更少，且在求解等效源基函数系数的计算中只需要进行向量与矩阵的计算，避免了现有技术采用平面等效源模型导致的需要进行复杂矩阵计算的缺陷，有效提高了测量效率。

本发明授权基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 1获取线性阵列天线工作频率点的近场电场信号： 1a初始化中心位于平面直角坐标系原点且沿Y方向排列的线阵天线的工作频率点为f0，f0对应的波长λ0，线性阵列天线长度为d； 1b在频率点f0下对线性阵列天线的近场区域分别进行C次近场采样，得到离散电场信号向量UC×1＝{U1,U2,...,Uc,...,UC}，其中，Uc表示第c个坐标为xc,yc的采样点对应的离散电场信号，c∈{1,2,...,C}； 2构建等效源模型： 构建包括中心位于平面直角坐标系原点且沿Y方向线性排列的M个等效源点的等效源模型，相邻等效源点之间的间距为Δλ0，第m个等效源点的坐标为x'm,y'm，其中Δλ0≥0.001λ0，m∈{1,2,...,M}，表示向上取整； 3获取关联系数矩阵： 3a通过每个采样点的坐标xc,yc和每个等效源点的坐标x'm,y'm计算每个等效源点到每个采样点的距离Rc,m； 3b通过每个等效源点到每个采样点的距离Rc,m和关联基函数Λmx,y计算关联系数Ac,m，并将所有关联系数Ac,m组合为维度为C×M的关联系数矩阵AC×M，其中关联系数Ac,m的计算公式为： 其中表示以Sm为边界的二重积分，e表示自然对数，Λmx,y表示在X轴和Y轴的自变量坐标分别为x，y的第m个关联基函数，Sm表示Λmx,y的分布区域； 4获取等效源基函数系数向量： 采用矩量法，并通过频率点f0下的离散电场信号向量UC×1与关联系数矩阵AC×M计算等效源基函数系数向量JM×1； 5获取线性阵列天线单切面的近场测量结果： 对等效源基函数系数向量JM×1进行远场外推，得到极坐标轴下以为角度坐标的中心工作频率点单切面远场方向图 其中，Jm表示等效源基函数系数向量JM×1中的第m个等效源基函数系数。

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