中国科学院物理研究所魏晋武获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院物理研究所申请的专利人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115207208B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110381200.6,技术领域涉及:H10N52/80;该发明授权人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器是由魏晋武;于国强;韩秀峰设计研发完成,并于2021-04-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器在说明书摘要公布了:本发明涉及人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器。根据一实施例,一种人工反铁磁多层膜结构可包括:面内场耦合层,包括由铁磁导电材料形成的第一铁磁层和第二铁磁层,以及位于所述第一铁磁层和第二铁磁层之间的第一间隔层,所述第一间隔层由非磁导电材料形成并且诱导所述第一铁磁层和第二铁磁层之间的反铁磁耦合;自由磁层,包括由铁磁导电材料形成的第三铁磁层和第四铁磁层,以及位于所述第三铁磁层和第四铁磁层之间的自旋霍尔效应层,所述自旋霍尔效应层由具有自旋霍尔效应的材料形成并且诱导所述第三铁磁层和第四铁磁层之间的反铁磁耦合;以及中间层,位于所述面内场耦合层与所述自由磁层之间,所述中间层由非磁材料形成。
本发明授权人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器在权利要求书中公布了:1.一种人工反铁磁多层膜结构,包括: 面内场耦合层,包括由铁磁导电材料形成的第一铁磁层和第二铁磁层,以及位于所述第一铁磁层和第二铁磁层之间的第一间隔层,所述第一间隔层由非磁导电材料形成并且诱导所述第一铁磁层和第二铁磁层之间的反铁磁耦合,以形成人工反铁磁结构; 自由磁层,包括由铁磁导电材料形成的第三铁磁层和第四铁磁层,以及位于所述第三铁磁层和第四铁磁层之间的自旋霍尔效应层,所述自旋霍尔效应层由具有自旋霍尔效应的材料形成并且诱导所述第三铁磁层和第四铁磁层之间的反铁磁耦合,以形成人工反铁磁结构;以及 中间层,位于所述面内场耦合层与所述自由磁层之间,所述中间层由非磁材料形成。
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