江苏第三代半导体研究院有限公司周溯沅获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏第三代半导体研究院有限公司申请的专利P型氮化物外延结构的制备方法、外延结构及半导体器件获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114843174B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210468506.X,技术领域涉及:H10P14/24;该发明授权P型氮化物外延结构的制备方法、外延结构及半导体器件是由周溯沅;闫其昂;王国斌设计研发完成,并于2022-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本P型氮化物外延结构的制备方法、外延结构及半导体器件在说明书摘要公布了:本发明公开了一种P型氮化物外延结构的制备方法、外延结构及半导体器件,所述方法包括以下步骤:提供衬底;在衬底上依次生长U型氮化物层、轻掺P型氮化物层和采用delta掺杂法生长的高掺P型氮化物层;在腔内进行退火;其中,所述高掺P型氮化物层呈周期性生长,其每个周期生长包括以下步骤:通入N源和三族金属源,并加入表面活化剂,形成非掺氮化物层;切断三族金属源和表面活化剂,进行N源吹扫;通入掺杂源,所述掺杂源的掺杂元素包括Mg和Cu,Mg元素为主要掺杂元素,Cu元素为辅助掺杂元素。本发明提高P型氮化物载流子浓度的同时具有较好的晶体质量和外延表面质量。
本发明授权P型氮化物外延结构的制备方法、外延结构及半导体器件在权利要求书中公布了:1.一种P型氮化物外延结构的制备方法,其特征在于:包括以下步骤: 提供衬底; 在衬底上依次生长U型氮化物层、轻掺P型氮化物层和采用delta掺杂法生长的高掺P型氮化物层; 在腔内进行退火; 其中,所述高掺P型氮化物层呈周期性生长,其每个周期生长包括以下步骤: 通入N源和三族金属源,并加入表面活化剂,形成非掺氮化物层; 切断三族金属源和表面活化剂,进行N源吹扫; 通入掺杂源,所述掺杂源的掺杂元素包括Mg和Cu,Mg元素为主要掺杂元素,Cu元素为辅助掺杂元素; 其中,所述轻掺P型氮化物层的生长压力小于高掺P型氮化物层,通入掺杂源中Cu的掺杂浓度小于Mg的掺杂浓度。
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