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龙图腾网获悉熵码科技股份有限公司申请的专利物理不可复制功能品质检查的内建自我测试电路以及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114627948B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111328767.3，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权物理不可复制功能品质检查的内建自我测试电路以及方法是由邵启意;庄恺莘;游钧恒;吴孟益设计研发完成，并于2021-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本物理不可复制功能品质检查的内建自我测试电路以及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于物理不可复制功能简称PUF品质检查的内建自我测试电路以及内建自我测试方法。所述内建自我测试电路包含PUF阵列、读出电路及第一比较电路。所述PUF阵列包含多个PUF单元，其中每一PUF单元包含第一存储单元及第二存储单元，而所述读出电路自所述第一存储单元输出一输出比特并且自所述第二存储单元输出一奇偶性比特。所述第一比较电路将输出字串与奇偶性字串作比较以产生奇偶性检查结果，其中所述输出字串包含分别自所述多个PUF单元中的多个被选择的PUF单元读取的输出比特，而所述奇偶性字串包含分别自所述多个被选择的PUF单元读取的奇偶性比特。本发明能在没有副作用或较不会带来副作用的情况下提升检查物理不可复制功能品质的效率。

本发明授权物理不可复制功能品质检查的内建自我测试电路以及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于物理不可复制功能品质检查的内建自我测试电路，其特征在于，包含： 一物理不可复制功能阵列，包含多个物理不可复制功能单元，其中所述多个物理不可复制功能单元中的每一物理不可复制功能单元包含一第一存储单元以及一第二存储单元，所述第一存储单元包含第一晶体管，所述第二存储单元包含第二晶体管，所述第一晶体管及所述第二晶体管互相串联，以及所述第一晶体管及所述第二晶体管在初始化时被同时注册； 一读出电路，耦接至所述物理不可复制功能阵列，用来输出包含有自多个被选择的物理不可复制功能单元的第一存储单元读取的多个输出比特的一输出字串、以及包含有自所述多个被选择的物理不可复制功能单元的第二存储单元读取的多个奇偶性比特的一奇偶性字串；以及 一第一比较电路，耦接至所述读出电路，用来依据所述输出字串与所述奇偶性字串之间的一汉明距离产生一奇偶性检查结果； 其中对于所述多个被选择的物理不可复制功能单元的每一物理不可复制功能单元，所述第一比较电路检查所述多个被选择的物理不可复制功能单元的所述每一物理不可复制功能单元的输出比特与奇偶性比特是否具有相反的逻辑值。

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