大塚电子株式会社若山育央获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉大塚电子株式会社申请的专利粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113495042B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110367194.9，技术领域涉及：G01N15/0205；该发明授权粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序产品是由若山育央设计研发完成，并于2021-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序产品在说明书摘要公布了：本发明涉及粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序，设定与作为测定对象的粒径相应的适当的测定时间，节省无用的测定时间。粒径测定方法包括：测试测定步骤，在包括预先设定的多个测定时刻的测试测定时间内对试样照射光，测定被试样散射的散射光的测试测定强度；自相关函数计算步骤，计算表示测试测定强度的自相关与时间之间的关系的自相关函数；设定步骤，基于到自相关函数低于规定的阈值为止的时间和对该时间加计而设定的预备时间，设定预先设定的多个测定时刻中的在正式测定中使用的一部分测定时刻；正式测定步骤，在包括一部分测定时刻的正式测定时间内测定散射光的正式测定强度；以及粒径计算步骤，基于正式测定强度计算试样的粒径。
本发明授权粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序产品在权利要求书中公布了：1.一种粒径测定方法，包括： 测试测定步骤，在包括预先设定的多个测定时刻的测试测定时间内，对试样照射光，测定被所述试样散射的散射光的测试测定强度，其中，所述测试测定时间被划分为多个连续的组，每组对应多个通道并具有预定的恒定采样时间，其中第一组的采样时间最小，后续组的采样时间逐组递增； 自相关函数计算步骤，计算表示所述测试测定强度的自相关与时间之间的关系的自相关函数； 设定步骤，设定比测试测定时间的总组数更少的部分组作为正式测定的组，其中，正式测定的最后一组的组数是基于所述自相关函数降至规定的阈值所需的时间以及对该时间加计而设定的预备时间确定的； 正式测定步骤，在包括所述部分组的正式测定时间内，对所述试样照射光，测定被所述试样散射的散射光的正式测定强度；以及 粒径计算步骤，基于所述正式测定强度，计算所述试样的粒径。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人大塚电子株式会社，其通讯地址为：日本大阪府枚方市；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励