上海微世半导体有限公司丁波获国家专利权
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龙图腾网获悉上海微世半导体有限公司申请的专利一种自动晶粒测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223857339U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-30发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423174294.8，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型一种自动晶粒测试设备是由丁波;王超;陈瀚;侯金松;杭海燕;谷卫东;智朋;张伟设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自动晶粒测试设备在说明书摘要公布了：一种自动晶粒测试设备，包括：密封罩，所述密封罩上具有罩门；用于放置待测试晶粒的晶粒放置盘；晶粒测试盘，所述晶粒测试盘上具有多个晶粒放置槽，所述晶粒放置槽内具有用于与晶粒建立电连接的导电结构；用于在所述晶粒放置盘和晶粒测试盘之间移动晶粒的机械手臂，所述机械手臂上设有真空吸头和测试笔；分别用于对晶粒进行升温和降温的加热装置和低温液氮装置，所述加热装置和低温液氮装置均与所述晶粒测试盘接触；其中，所述晶粒放置盘、晶粒测试盘、机械手臂、加热装置和低温液氮装置均被密封在所述密封罩内。本实用新型提高了生产效率，降低了生产成本，也保证了测试的准确性。
本实用新型一种自动晶粒测试设备在权利要求书中公布了：1.一种自动晶粒测试设备，其特征在于，包括： 密封罩，所述密封罩上具有罩门； 用于放置待测试晶粒的晶粒放置盘； 晶粒测试盘，所述晶粒测试盘上具有多个晶粒放置槽，所述晶粒放置槽内具有用于与晶粒建立电连接的导电结构； 用于在所述晶粒放置盘和晶粒测试盘之间移动晶粒的机械手臂，所述机械手臂上设有真空吸头和测试笔； 分别用于对晶粒进行升温和降温的加热装置和低温液氮装置，所述加热装置和低温液氮装置均与所述晶粒测试盘接触； 其中，所述晶粒放置盘、晶粒测试盘、机械手臂、加热装置和低温液氮装置均被密封在所述密封罩内。
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