合肥艾创微电子科技有限公司许培思获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥艾创微电子科技有限公司申请的专利ADC测试系统获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223842067U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202423265054.9,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型ADC测试系统是由许培思;邱雷;潘俊;王巍巍;王威设计研发完成,并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本ADC测试系统在说明书摘要公布了:本实用新型提供一种ADC测试系统,包括信号源、ADC核心板、数字信号与接口驱动转接板、FPGA开发板以及PC上位机,其中:所述ADC核心板的信号输入端与所述信号源的信号输出端连接,以将所述信号源输出的模拟信号转换为数字信号;所述数字信号与接口驱动转接板的输入端与所述ADC核心板的输出端连接,用于所述数字信号的阻抗变换;所述FPGA开发板的输入端与所述数字信号与接口驱动转接板的输出端连接;所述FPGA开发板的输出端与所述PC上位机通信连接。本实用新型在评估不同的ADC性能时,数字信号与接口驱动转接板可重复利用,只要重新设计ADC核心板即可,解决了传统集成有数字信号与接口驱动转接板的ADC核心板复用率低且设计复杂的缺陷。
本实用新型ADC测试系统在权利要求书中公布了:1.ADC测试系统,其特征在于,包括信号源00、ADC核心板10、数字信号与接口驱动转接板20、FPGA开发板30以及PC上位机40,其中: 所述ADC核心板10的信号输入端与所述信号源00的信号输出端连接,以将所述信号源00输出的模拟信号转换为数字信号; 所述数字信号与接口驱动转接板20的输入端与所述ADC核心板10的输出端连接,用于所述数字信号的阻抗变换; 所述FPGA开发板30的输入端与所述数字信号与接口驱动转接板20的输出端连接;所述FPGA开发板30的输出端与所述PC上位机40通信连接。
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