北京清大天达光电科技股份有限公司雷博鳌获国家专利权
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龙图腾网获悉北京清大天达光电科技股份有限公司申请的专利一种电子元器件校验平台获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223842047U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520335047.7,技术领域涉及:G01R31/00;该实用新型一种电子元器件校验平台是由雷博鳌;焦立源;范兆周;贺未明;曹俊义;王康设计研发完成,并于2025-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电子元器件校验平台在说明书摘要公布了:本实用新型提供了一种电子元器件校验平台,涉及电子元器件测试技术领域,该种校验平台,主要由机架、腔体单元、测试单元、温度控制单元和压力控制单元构成,通过压力控制单元和温度控制单元设定并切换多组不同的压力值和温度值,测试单元完成待测产品的测试、烧写,腔体单元开模,测试烧写完成后的产品下料,由于温度控制单元和压力控制单元一上一下布置,故整个校验平台较为紧凑,同一电子元器件在进行多种温度和压力的测试时,不需要进入不同的恒温室进行加压测试,进而提高了测试效率。
本实用新型一种电子元器件校验平台在权利要求书中公布了:1.一种电子元器件校验平台,包括机架,其特征在于,还包括: 腔体单元,用于提供待测产品所需的温度和压力的环境; 测试单元,用于承载待测产品,且为待测产品提供电连接并完成测试、烧写; 温度控制单元,用于提供测试所需的温度,其设于所述腔体单元的上方,其能够向靠近或远离所述腔体单元的方向移动; 压力控制单元,用于提供测试所需的压力,其设于所述腔体单元的下方,且与所述腔体单元的的下腔体部件连接,为所述腔体单元提供测试所需的压力并精确控制。
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