宁波华兴伟业电子科技开发有限公司杨国胜获国家专利权
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龙图腾网获悉宁波华兴伟业电子科技开发有限公司申请的专利一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223841223U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520504505.5，技术领域涉及：G01D18/00；该实用新型一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备是由杨国胜设计研发完成，并于2025-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备，包括机壳，机壳的上端设置有检测平台，检测平台上安装有检测线圈，检测线圈内形成有上端开口的检测腔，检测平台上设置有与检测腔连通的置入口；检测平台在位于检测线圈的一侧安装有多个接线座，检测平台的侧上方安装有触控屏，触控屏用于调节测试参数以及显示测试数据；测试时，磁性传感器一端接线在接线座上，另一端置于检测腔内，检测线圈通电后产生磁场使磁性传感器开合，触控屏可显示磁性传感器开合次数；本实用新型提供的一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备，克服了现有磁性传感器老化测试效率低以及不方便统计的缺陷。
本实用新型一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备在权利要求书中公布了：1.一种适用于磁性传感器开关快速老化测试设备，包括机壳1，其特征在于：所述机壳1的上端设置有检测平台101，所述检测平台101上安装有检测线圈2，所述检测线圈2内形成有上端开口的检测腔201，所述检测平台101上设置有与所述检测腔201连通的置入口102；所述检测平台101在位于所述检测线圈2的一侧安装有多个接线座3，所述检测平台101的侧上方安装有触控屏4，所述触控屏4用于调节测试参数以及显示测试数据；测试时，磁性传感器一端接线在所述接线座3上，另一端置于所述检测腔201内，所述检测线圈2通电后产生磁场使所述磁性传感器开合，所述触控屏4可显示所述磁性传感器开合次数。
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