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龙图腾网获悉雷特尔电气有限公司申请的专利基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121033040B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511557853.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法及系统是由鲁晓东;朱建丰设计研发完成，并于2025-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，公开了基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法及系统，包括获取环网柜的红外热成像多光谱序列图像；识别多光谱序列图像的多个候选区域并选取气体参考区域，计算气体参考区域的平均多光谱向量作为气体参考光谱；计算各光谱通道的组内方差，确定权重向量和角度阈值；计算待检测像素点的多光谱向量与气体参考光谱之间的加权光谱角；将同时满足以下条件的待检测像素点判定为气体泄漏点：加权光谱角小于角度阈值，且该待检测像素点的温度低于预设温度阈值；根据所有判定的气体泄漏点，生成气体泄漏区域的可视化图像。本发明提升了检测的抗干扰能力，能够在复杂背景下实现对六氟化硫气体泄漏的可靠识别。

本发明授权基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于热成像的六氟化硫环网柜气体泄漏检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S1，获取环网柜的红外热成像多光谱序列图像；通过均值漂移聚类识别多光谱序列图像的每一帧图像中的低温且纹理均匀的多个候选区域；从候选区域中选取平均温度最低的区域作为气体参考区域，并计算气体参考区域的平均多光谱向量作为气体参考光谱，包括：遍历所有候选区域，计算每个候选区域内所有像素点的温度平均值；将所有候选区域按温度平均值进行升序排序；选取排序后的第一个区域作为气体参考区域；提取气体参考区域内所有像素点在N个光谱通道上的响应值，计算每个光谱通道的响应平均值，构成N维的平均多光谱向量，平均多光谱向量作为气体参考光谱； S2，计算气体参考区域内各光谱通道的组内方差，并基于组内方差确定权重向量和角度阈值；对于帧图像中的任一待检测像素点，基于权重向量计算待检测像素点的多光谱向量与气体参考光谱之间的加权光谱角； S3，将同时满足以下条件的待检测像素点判定为气体泄漏点：加权光谱角小于角度阈值，且该待检测像素点的温度低于预设温度阈值；根据所有判定的气体泄漏点，生成气体泄漏区域的可视化图像； 计算气体参考区域内各光谱通道的组内方差，并基于组内方差确定权重向量，包括：计算气体参考区域内的第i个光谱通道的所有像素点光谱响应值的方差；计算气体参考区域内N个光谱通道的所有像素点光谱响应值的方差，得到方差集合；第i个光谱通道的权重通过以下公式计算： ；所有光谱通道的权重构成N维的权重向量； 角度阈值通过以下方式计算：计算所有光谱通道组内方差的总和，得到聚合方差值；所述角度阈值通过以下公式计算，；其中，为角度阈值，为比例系数，为聚合方差值，为基础偏移量。

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