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龙图腾网获悉武汉理工大学申请的专利一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120577175B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510802913.3，技术领域涉及：G01N15/02；该发明授权一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法及系统是由华林;关山月;汪小凯;雒卓航;樊瑞设计研发完成，并于2025-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提出了一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法及系统，属于超声波无损检测技术领域；包括如下步骤：采用液浸方式配合相控阵超声探头阵列检测具有多重曲面的工件，并依据工件的形状特征划分不同结构类型的待测区域；设计相控阵超声探头阵列的声束聚焦法则和声束传播路径，根据工件的尺寸参数，为不同结构类型的待测区域设计相控阵超声检测参数；对工件不同结构类型的待测区域的晶粒尺寸进行检测，通过所述相控阵超声探头阵列采集各待测区域的相控阵超声信号；对采集各待测区域的相控阵超声信号进行校准，分别计算各待测区域的相控阵超声探头阵列信号的平均衰减系数；通过预先构建的晶粒尺寸相控阵超声评价模型计算待测区域的晶粒尺寸。

本发明授权一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种复杂构件晶粒尺寸相控阵超声无损评价方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：采用液浸方式配合相控阵超声探头阵列检测具有多重曲面的工件，并依据工件的形状特征划分不同结构类型的待测区域； S2：构建不同结构类型的待测区域对应的相控阵超声检测模型，通过设计相控阵超声探头阵列的声束聚焦法则和声束传播路径，使声束由工件上表面入射，经过工件底面反射之后被相控阵超声探头阵列接收；根据工件的尺寸参数，为不同结构类型的待测区域设计相控阵超声检测参数； S3：根据相控阵超声探头阵列的声束传播路径和相控阵超声检测参数，对工件不同结构类型的待测区域的晶粒尺寸进行检测，通过所述相控阵超声探头阵列采集各待测区域的相控阵超声信号； S4：预先构建不同结构类型的待测区域的相控阵超声探头阵列声束衰减校准模型，对采集各待测区域的相控阵超声信号进行校准，分别计算各待测区域的相控阵超声探头阵列信号的平均衰减系数； S5：将各待测区域的相控阵超声探头阵列信号平均衰减系数，代入预先构建的晶粒尺寸相控阵超声评价模型中，计算待测区域的晶粒尺寸。

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