买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉贵州开放大学(贵州职业技术学院);深圳市大世界精密电路有限公司申请的专利一种基于机器视觉的电路板检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120451153B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510944297.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于机器视觉的电路板检测方法及系统是由袁琳琳;谭景予;周园园;黄建均设计研发完成，并于2025-07-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于机器视觉的电路板检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于机器视觉的电路板检测方法及系统，通过获取待检测电路板的原始视觉数据集合，对原始视觉数据集合进行视觉信息优化处理，得到具有统一光照强度和对比度的标准化图像集合，调用预训练的缺陷判别模型对标准化图像集合进行关键特征识别处理，生成图像中电路板的潜在缺陷特征集合，根据潜在缺陷特征集合确定待检测电路板中存在的缺陷类型及缺陷在图像画面中的位置分布特征信息，基于缺陷类型及位置分布特征信息生成包含缺陷定位坐标的检测结果报告，并将检测结果报告输出至目标显示终端以完成检测流程。本发明提升了缺陷识别的准确性，同时结合位置标记信息确保了缺陷定位的可靠性，从而有效提升了电路板检测结果的整体质量。

本发明授权一种基于机器视觉的电路板检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于机器视觉的电路板检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待检测电路板的原始视觉数据集合，所述原始视觉数据集合包含多角度采集的具有位置标记的多组图像； 对所述原始视觉数据集合进行视觉信息优化处理，得到具有统一光照强度和对比度的标准化图像集合； 调用预训练的缺陷判别模型对所述标准化图像集合进行关键特征识别处理，生成所述图像中电路板的潜在缺陷特征集合； 根据所述潜在缺陷特征集合确定所述待检测电路板中存在的缺陷类型及所述缺陷在图像画面中的位置分布特征信息，具体包括：解析所述潜在缺陷特征集合中的特征差异程度，提取与不同缺陷类型对应的特征标识信息，所述特征标识信息包含开路缺陷标识、短路缺陷标识及虚焊缺陷标识；对所述潜在缺陷特征集合中的缺陷区域进行坐标定位处理，记录缺陷在图像中的像素坐标位置，提取所述缺陷区域的像素坐标位置所在的图像的位置标记信息，所述位置标记信息包含图像采集时的相机位姿参数和光学畸变参数；调用预存储的电路板三维模型数据，获取所述图像对应的电路板区域在三维模型中的理论投影坐标，所述理论投影坐标通过将三维模型顶点坐标输入相机投影模型计算得到；计算所述缺陷区域的像素坐标位置与理论投影坐标的坐标偏移量，所述坐标偏移量包含x轴和y轴方向的像素偏移值；基于所述相机位姿参数和光学畸变参数对所述坐标偏移量进行畸变校正处理，消除镜头畸变导致的坐标偏移误差，得到校正后的坐标偏移量；将所述校正后的坐标偏移量转换为实际物理尺寸，通过像素尺寸与实际物理尺寸的比例系数将像素偏移值转换为毫米级的物理偏移值；将所述理论投影坐标对应的三维模型位置与物理偏移值相加，生成缺陷区域在电路板实际物理空间中的定位坐标，完成缺陷位置与电路板实际物理位置的映射关系建立；分析所述缺陷区域的几何形态特征，包括缺陷区域的面积大小、形状规则度及边缘清晰度，生成缺陷形态描述参数；基于所述特征标识信息和缺陷形态描述参数匹配预设的缺陷类型分类规则，确定所述缺陷区域对应的具体缺陷类型；对所述缺陷区域的像素坐标位置进行空间统计分析，生成包含缺陷分布密度和聚集区域边界的位置分布特征信息； 基于所述缺陷类型及所述位置分布特征信息生成包含缺陷定位坐标的检测结果报告，并将所述检测结果报告输出至目标显示终端以完成检测流程。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人贵州开放大学(贵州职业技术学院);深圳市大世界精密电路有限公司，其通讯地址为：551000 贵州省贵阳市云岩区八鸽岩路138号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。