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龙图腾网获悉上海卫星工程研究所申请的专利行星探测递进式电离辐射屏蔽防护方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119683021B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411694332.4，技术领域涉及：B64G1/54；该发明授权行星探测递进式电离辐射屏蔽防护方法是由张祎;杜洋;耿志卿;林小艳;段晓闻;于淼;牛俊坡设计研发完成，并于2024-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本行星探测递进式电离辐射屏蔽防护方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种行星探测强辐射环境递进式电离辐射屏蔽防护方法，包括：根据行星探测任务，开展空间辐射环境分析，形成电离总剂量深度曲线表，制定空间环境防护设计要求；整理全部单机的抗总剂量能力指标，形成单机件抗电离辐射能力统计表；对每个单机与空间环境防护设计要求匹配性进行防护等级确认；形成强辐射环境递进式屏蔽防护单机清单；对递进式电离辐射屏屏蔽防护策略进行效果评估；制定递进式电离辐射屏蔽防护实施方案，明确单机防护等级及屏蔽防护策略、平台布局与保证条件，形成工程实施方案。本发明针对行星探测任务电离辐射防护需求，提供强辐射环境防护方法，可供工程应用及实施。

本发明授权行星探测递进式电离辐射屏蔽防护方法在权利要求书中公布了：1.一种行星探测递进式电离辐射屏蔽防护方法，其特征在于，根据空间辐射环境分析，进行航天器配套单机抗电离辐射能力与空间环境防护设计要求匹配性分析，确定单机防护等级，制定递进式辐射屏蔽防护实施方案； 其特征在于，采用单机辐射敏感性评价，对航天器上单机的辐射屏蔽防护等级进行分析和确认，根据单机防护等级采取不同的防护策略，以满足抗电离总剂量指标要求； 其特征在于，使用表格化方法进行过程管理，通过电离总剂量深度曲线表、空间环境防护设计要求、单机抗电离辐射能力统计表，经过分析形成递进式屏蔽防护单机清单； 其特征在于，包括： 步骤S1：根据行星环绕探测任务的飞行过程，结合轨道方案开展空间辐射环境分析，形成电离总剂量深度曲线表，提出空间环境防护设计要求； 步骤S2：根据航天器各分系统产品配套，整理单机抗总剂量能力指标，形成单机抗电离辐射能力统计表； 步骤S3：开展单机辐射敏感性评价，对每个单机与空间环境防护设计要求匹配性进行防护等级确认；根据不同单机符合防护等级，确定相应的防护策略； 步骤S4：整理筛选好的单机抗辐射能力及相应的屏蔽防护措施，形成强辐射环境递进式屏蔽防护单机清单； 其特征在于，在所述步骤S3中： 对于单机符合防护等级Ⅰ，整理敏感单机的结构尺寸和抗总剂量能力高低，根据电离总剂量深度曲线表，确定采用集中屏蔽舱内的防护策略； 对于单机符合防护等级Ⅱ，整理次敏感单机的结构尺寸和抗总剂量能力高低，根据电离总剂量深度曲线表，确定采用承力结构遮挡的防护策略； 对于单机符合防护等级Ⅲ，整理不敏感单机抗总剂量能力、特殊安装要求单机的抗总剂量能力及薄弱元器件，根据电离总剂量深度曲线表，对于特殊安装要求单机采用局部辐射屏蔽防护策略。

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