杭州广立微电子股份有限公司成家柏获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州广立微电子股份有限公司申请的专利一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593869B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310622198.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统是由成家柏;陈巍;杨璐丹;蓝帆设计研发完成，并于2023-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种高密度测试芯片的超高速测量方法，预设测试所需的信号并对应写入函数发生器和源测量单元中；控制函数发生器和源测量单元分别产生同步触发的CLK信号和DF信号，与函数发生器相连的地址寄存器根据CLK信号中波形的变换切换地址，触发源测量单元按照DF信号频率对不同地址连续采样，每个地址对应多个采样数据，从多个采样数据中确定函数发生器每个信号地址对应的有效测量值并进行对齐。通过硬件同步触发并配合SMU连续采样的方式实现超高速测试，并且每个地址被测量多次，配合数据分析实现测试地址与有效数据的对齐，可避免测试数据错位问题，有效改善测试数据稳定性。还提供一种测试系统具有相应优势。
本发明授权一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统在权利要求书中公布了：1.一种高密度测试芯片的超高速测量方法，测试设备设置有函数发生器、与函数发生器相连的地址寄存器和源测量单元；其特征在于，所述超高速测量方法包括如下步骤： 预设测试所需的CLK信号和DF信号，并对应写入函数发生器和源测量单元内存中； 控制所述函数发生器和所述源测量单元分别产生同步触发的CLK信号和DF信号；所述地址寄存器根据CLK信号中波形的变换切换地址，触发所述源测量单元按照所述DF信号的频率对不同地址连续采样； 获取采样数据，从所述采样数据中确定每个地址对应的有效测量值。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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