武汉光启源科技有限公司何帅获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉光启源科技有限公司申请的专利一种光器件耦合测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116298788B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310201443.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种光器件耦合测试装置及方法是由何帅设计研发完成，并于2023-03-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光器件耦合测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光器件耦合测试装置及方法，属于光学耦合测试技术领域，包括耦合器，所述耦合器的出光口朝向所述芯片光口设置，所述耦合器的出光口与所述芯片光口之间留有容置间隙；出液组件，所述出液组件的出液口朝向所述容置间隙设置；温度调节组件，所述温度调节组件与所述出液组件相连，用于调整所述出液组件出液口喷出匹配液温度；源表，所述源表与所述芯片电连接，用于感知所述芯片上的光信号强度。本申请通过在耦合器与芯片之间形成流动匹配液，并利用温度调节组件改变匹配液温度，实现匹配液折射率改变，该方式能够模拟芯片使用状态下的工况，且不需要频繁更换匹配液获取与芯片相匹配的最佳折射率，减少了测试次数，提高实验效率。
本发明授权一种光器件耦合测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种光器件耦合测试装置，用于芯片光信号强度测试，其特征在于，包括： 耦合器，所述耦合器用于发出光信号，所述耦合器的出光口朝向所述芯片光口设置，所述耦合器的出光口与所述芯片光口之间留有容置间隙； 出液组件，所述出液组件用于喷出匹配液，所述出液组件的出液口朝向所述容置间隙设置； 温度调节组件，所述温度调节组件与所述出液组件相连，用于调整所述出液组件出液口喷出匹配液温度； 源表，所述源表与所述芯片电连接，用于感知所述芯片上的光信号强度；第一回收组件，所述第一回收组件用于吸收所述出液组件喷出的匹配液； 所述第一回收组件与所述出液组件相对设置，所述第一回收组件和所述出液组件分别设置在所述容置间隙两侧，以在所述容置间隙处形成稳定匹配液流。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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