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龙图腾网获悉北京智涵芯宇科技有限公司申请的专利相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116243146B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310362333.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法是由戴葵设计研发完成，并于2023-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法，其中相位偏差测量电路包括粗粒度延时链、信号源选择器、细粒度延时链和采样单元。本发明的相位偏差测量电路利用芯片间互连总线信号的相位偏差与信号线寄生电容电阻电感等参数之间的耦合关系，基于粗粒度延时链和细粒度延时链相结合的方法检测不同信号之间相位偏差，具有普遍适用性，可广泛用于各种芯片的互连总线传输防护，能防止关键信息在互连总线传输过程中被探测分析，将芯片数据安全防护的范围从芯片内部拓展到芯片外部，具有安全性好、灵敏度高、适应范围广的优点，能够提升芯片间数据传输的安全性，避免通过总线探测途径泄露敏感数据。

本发明授权相位偏差测量电路、检测电路、芯片系统及其应用方法在权利要求书中公布了：1.一种互连总线信号相位偏差远端检测电路，其特征在于，包括n个远端相位偏差测量电路RTDC1～RTDCn，远端相位偏差测量电路RTDC1～RTDCn为第一相位偏差测量电路或第二相位偏差测量电路，任意第i个远端相位偏差测量电路RTDCi用于在对应的选通信号CSEL的控制下检测得到来自远端芯片的第一检测信号RSi、第二检测信号RTi之间的相位偏差Ri；所述第一相位偏差测量电路包括粗粒度延时链、信号源选择器、细粒度延时链和采样单元，所述粗粒度延时链包括N个串联的延时单元C-DLY，用于将输入的第一检测信号S依次经过N个延时单元C-DLY得到N路延时信号S1～SN；所述信号源选择器用于在选通信号CSEL的控制下从第一检测信号S以及N路延时信号S1～SN中选择一路检测信号SC作为细粒度延时链的输入；所述细粒度延时链包含M个串联的细粒度延时单元F-DLY，用于将输入的检测信号SC依次经过M个细粒度延时单元F-DLY得到M路延时信号F1～FM；所述采样单元包括与细粒度延时单元F-DLY一一对应的D触发器单元，所述D触发器单元复位信号端RSTN连接使能信号EN、时钟端CK连接第二检测信号T、数据输入端D与对应细粒度延时单元F-DLY的输出端相连、输出端用于输出第一检测信号S、第二检测信号T之间的相位偏差检测信号；第二相位偏差测量电路包括细粒度延时链和采样单元，所述细粒度延时链包含M个串联的细粒度延时单元F-DLY，用于将输入的第一检测信号S依次经过M个细粒度延时单元F-DLY得到M路延时信号F1～FM；所述采样单元包括与细粒度延时单元F-DLY一一对应的D触发器单元，所述D触发器单元复位信号端RSTN连接使能信号EN、时钟端CK连接第二检测信号T、数据输入端D与对应细粒度延时单元F-DLY的输出端相连、输出端用于输出第一检测信号S、第二检测信号T之间的相位偏差检测信号。

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