深圳忆芯信息技术有限公司李剑获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳忆芯信息技术有限公司申请的专利一种内存条老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223828235U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520027870.1，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型一种内存条老化测试装置是由李剑;贺朝飞;谭必华;谭艾英设计研发完成，并于2025-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种内存条老化测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种内存条老化测试装置，包括：底板，和设于底板上的供电模块、通信模块、信号测试模块及若干个可靠性测试模块；供电模块的一端连接于信号测试模块和可靠性测试模块，另一端用于接入外部电源；通信模块的一端也连接于信号测试模块和可靠性测试模块，另一端用于接入外部主控设备；信号测试模块和可靠性测试模块均用于接入内存条。本实用新型提供的内存条老化测试装置将供电模块、通信模块、信号测试模块及多个可靠性测试模块集成在底板上，可对多个内存条进行高效且全面的可靠性验证和信号测试，避免了测试效率低和测试结果不全面的问题，还提高了内存条老化测试装置的结构紧凑性和空间利用率。
本实用新型一种内存条老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种内存条老化测试装置，其特征在于，包括：底板，和设于所述底板上的供电模块、通信模块、信号测试模块及若干个可靠性测试模块；所述供电模块的一端连接于所述信号测试模块和所述可靠性测试模块，另一端用于接入外部电源；所述通信模块的一端也连接于所述信号测试模块和所述可靠性测试模块，另一端用于接入外部主控设备；所述信号测试模块和所述可靠性测试模块均用于接入内存条。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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