上海元铭芯微电子技术有限公司樊华获国家专利权
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龙图腾网获悉上海元铭芯微电子技术有限公司申请的专利一种高加速应力测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223827772U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422859825.0，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种高加速应力测试装置是由樊华;沈玺设计研发完成，并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高加速应力测试装置在说明书摘要公布了：本申请公开了一种高加速应力测试装置，该高加速应力测试装置包括：箱体；电源控制单元，设置于箱体外，电源控制单元包括多个开关组件，每一开关组件的一端连接电源；测试单元，设置于箱体内；测试单元包括多个测试座，每一测试座被配置为在放置待测芯片时，对待测芯片进行测试；测试单元通过电源控制单元与电源连接；其中，多个测试座至少分为两组，每一组测试座连接一个开关组件的另一端，电源控制单元能够利用多个开关组件单独为每一组测试座供电。上述方案，在电源输出异常电流时，无需打开箱体即可实现每一组测试座的故障排查，提高故障排查的效率。
本实用新型一种高加速应力测试装置在权利要求书中公布了：1.一种高加速应力测试装置，其特征在于，所述高加速应力测试装置包括： 箱体； 电源控制单元，设置于所述箱体外，所述电源控制单元包括多个开关组件，每一开关组件的一端连接电源； 测试单元，设置于所述箱体内；所述测试单元包括多个测试座，每一所述测试座被配置为在放置待测芯片时，对所述待测芯片进行测试；所述测试单元通过所述电源控制单元与电源连接； 其中，所述多个测试座至少分为两组，每一组测试座连接一个开关组件的另一端，所述电源控制单元能够利用多个开关组件单独为每一组测试座供电。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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