昆山日月同芯半导体有限公司孟鹏飞获国家专利权
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龙图腾网获悉昆山日月同芯半导体有限公司申请的专利一种芯片质量检测设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223827586U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520034168.8，技术领域涉及：G01N21/956；该实用新型一种芯片质量检测设备是由孟鹏飞;胡明翊;贾红星设计研发完成，并于2025-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片质量检测设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种芯片质量检测设备，应用在芯片生产领域，包括转盘，所述转盘的表面开设有六个上料口，所述上料口的内部设有若干个与转盘固定连接的支撑杆；本实用新型通过设置加热仓和加热板能够对芯片进行加热，通过对芯片加热，能够促使芯片内的元器件膨大，耐热不足的芯片会高温下产生裂纹，便于下料后检测相机检测芯片的质量，从而及时剔除耐热性不足的芯片，避免后期浪费资源进行电路检测加热芯片产生的高温可以使芯片内的元器件膨大，耐热不足的芯片内部元器件膨大会因为膨大互相挤压致使芯片产生裂纹。通过设置连接杆、下料气缸和下料板，能够在芯片进行加热后将芯片推出，可主动完成芯片的下料。
本实用新型一种芯片质量检测设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片质量检测设备，包括转盘1，其特征在于：所述转盘1的表面开设有六个上料口2，所述上料口2的内部设有若干个与转盘1固定连接的支撑杆3，所述转盘1的表面套设有加热仓4，所述加热仓4内腔的顶部和底部均固定安装有加热板5，所述加热仓4的外侧安装有温度控制器6；所述转盘1的内部套设有连接杆7，所述连接杆7的表面固定安装有两个下料气缸8，所述下料气缸8的输出端固定连接有下料板9。
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