华侨大学叶少雄获国家专利权
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龙图腾网获悉华侨大学申请的专利原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120870054B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511368722.7,技术领域涉及:G01N21/45;该发明授权原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法是由叶少雄;冯攀设计研发完成,并于2025-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法在说明书摘要公布了:原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法,涉及溶质溶解速率测量技术领域。方法包括S1至S5。S1、获取待测样品,并在待测样品的非测试表面镀覆惰性膜,得到镀膜样品。S2、通过相干光干涉成像技术获取镀膜样品的初始三维立体图像,并提取测试表面处的初始表面高度。S3、获取有机质溶液,并使用有机质溶液连续冲刷镀膜样品的表面。S4、通过相干光干涉成像技术获取冲刷后的镀膜样品的三维立体图像,并提取测试表面处的溶解表面高度。S5、结合待测样品的摩尔体积,根据初始表面高度和溶解表面高度的表面高度的变化速率,计算溶解速率。
本发明授权原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法在权利要求书中公布了:1.一种原位测定有机质环境下光学可测溶质的溶解速率的方法,其特征在于,包括: S1、获取光学可测溶质制成的待测样品,并在待测样品的非测试表面镀覆惰性膜,得到镀膜样品; S2、通过相干光干涉成像技术获取所述镀膜样品的初始三维立体图像,并提取测试表面处的初始表面高度; S3、获取有机质溶液,并使用所述有机质溶液以恒定流速连续冲刷所述镀膜样品的表面; S4、然后通过相干光干涉成像技术重新获取所述镀膜样品的三维立体图像,并提取测试表面处的溶解表面高度; S5、结合待测样品的摩尔体积,根据初始表面高度和溶解表面高度的表面高度的变化速率,计算溶解速率; 溶解速率计算模型为:;式中,为待测样品的摩尔体积、为获取对应的三维图像到获取对应的三维图像之间的时间差; 所述光学可测溶质为水泥矿物或者具有水溶性的矿物; 所述有机质溶液以聚羧酸减水剂或蔗糖缓凝剂作为溶质,使用去离子水溶解得到;其中,所述溶质的浓度为。
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