上海芯联芯智能科技有限公司葛云飞获国家专利权
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龙图腾网获悉上海芯联芯智能科技有限公司申请的专利一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120724932B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511204305.9，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备是由葛云飞;石克强设计研发完成，并于2025-08-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备，该方法通过对覆盖点代码文件和RTL文件解析，并根据覆盖点代码文件中的覆盖点和RTL文件中的逻辑关系得到触发各覆盖点的输入信号组合，进而根据输入信号生成测试激励。极大地减少了人工参与，提高了整体测试效率。并且，该方法依据覆盖点和RTL文件中的逻辑关系精准推导输入信号组合，生成与之匹配的测试激励，提高测试激励生成的准确性和全面性，从而全面检测集成电路的功能，提高测试的准确性。
本发明授权一种集成电路测试激励的生成方法及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试激励的生成方法，其特征在于，所述方法包括： 获取集成电路的覆盖点代码文件和所述覆盖点代码文件对应的寄存器传输级RTL文件；所述覆盖点代码文件包括至少一个覆盖点；所述RTL文件用于记录所述集成电路内部信号的逻辑关系； 对所述覆盖点代码文件进行解析，识别各所述覆盖点对应的目标信号以及所述目标信号的目标取值； 基于所述RTL文件，确定各所述目标信号的类型；所述目标信号的信号类型包括输入信号、中间信号或输出信号； 根据各所述目标信号的类型和所述RTL文件记录的逻辑关系确定各所述覆盖点的输入信号组合； 根据各所述输入信号组合生成对应的测试激励；所述测试激励用于驱动所述集成电路触发所述覆盖点。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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