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龙图腾网获悉乐安博远电子有限公司申请的专利一种高精度半导体测试分选方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120714921B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511078675.2，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种高精度半导体测试分选方法及设备是由谭沈一行;谭贤君设计研发完成，并于2025-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高精度半导体测试分选方法及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高精度半导体测试分选方法及设备，属于半导体测试技术领域，包括：执行目标芯片的测试流程，将测试合格的目标芯片记为目标打标芯片，分析激光打标能量波动表征参量，确定激光打标系统的第一执行路径，结合激光打标能量波动表征参量执行激光打标系统的自适应调节，并在调节完成后分析激光打标系统的第二执行路径，分析激光打标碳化表征参量，确定激光打标系统的第三执行路径。本发明能够对激光打标过程中能量波动与碳化质量实现实时监测与动态调节，不仅提升了对打标异常的响应速度与调控精度，还有效避免了因激光参数漂移导致的误判或良品变NG问题，从而显著增强了整机测试分选过程的稳定性、良率与自动化水平。

本发明授权一种高精度半导体测试分选方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种高精度半导体测试分选方法，其特征在于，包括以下步骤： 将需要测试的半导体芯片记为目标芯片，执行目标芯片的测试流程，将测试合格的目标芯片记为目标打标芯片； 执行并实时监测目标打标芯片的激光打标流程，分析激光打标能量波动表征参量，确定激光打标系统的第一执行路径； 在第一执行路径为执行打标调节时，结合激光打标能量波动表征参量执行激光打标系统的自适应调节，并在调节完成后分析激光打标系统的第二执行路径； 采集激光打标图像集合，分析激光打标碳化表征参量，确定激光打标系统的第三执行路径； 所述分析激光打标碳化表征参量，具体分析过程如下： 接收稳定信号后，采集激光打标图像集合，获取图像碳化参数； 所述图像碳化参数，包括平均中位灰度值、最大边缘-中心灰度差值、平均边缘梯度强度和拉普拉斯方差最小值； 基于图像碳化参数分析激光打标碳化表征参量； 所述激光打标碳化表征参量为平均中位灰度值、最大边缘-中心灰度差值、平均边缘梯度强度和拉普拉斯方差最小值共同对激光打标碳化状态影响程度的量化表征，其具体表示为：将平均中位灰度值和最大边缘-中心灰度差值分别与对应参考值进行对比处理，将平均边缘梯度强度和拉普拉斯方差最小值的参考值与平均边缘梯度强度和拉普拉斯方差最小值进行对比处理，将各对比处理的结果结合对应碳化度量系数进行加权耦合处理，从而得到激光打标碳化表征参量。

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