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龙图腾网获悉合肥芯谷微电子股份有限公司申请的专利一种微波芯片测试工装获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120085143B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510244335.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种微波芯片测试工装是由宋剑威;胡张平;张华中;孙双元;彭升设计研发完成，并于2025-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微波芯片测试工装在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微波芯片测试工装，涉及微波芯片测试技术领域，旨在解决微波芯片测试工装中对于夹持器械功能不足的技术问题，包括测试机台；所述测试机台上设置有输送组件；所述测试机台上相对所述输送组件输出端位置设置有基础转运组件；所述基础转运组件下方设置有若干用于对微波芯片通电操作的辅助载台；所述辅助载台边侧设置有用于对微波芯片测试操作稳定限位的夹持组件。本发明基于夹持组件的调节设置，致使该夹持组件具有两种不同的夹持方式形成柔性夹持状态及弹性保持状态，通过两种不同夹持方式实现模拟通电测试中砷化镓和氮化镓微波芯片热膨胀系数不同的，有效提高操作的功能性。

本发明授权一种微波芯片测试工装在权利要求书中公布了：1.一种微波芯片测试工装，其特征在于，包括测试机台1；所述测试机台1上设置有输送组件2；所述测试机台1上相对所述输送组件2输出端位置设置有基础转运组件3； 所述基础转运组件3下方设置有若干用于对微波芯片通电操作的辅助载台4； 所述辅助载台4边侧设置有用于对微波芯片测试操作稳定限位的夹持组件5； 所述基础转运组件3输出端设置有双轴平台6；所述双轴平台6第二活动端设置有码料机构7；所述码料机构7上方设置有与所述测试机台1连接的视觉测试机构8； 其中，所述夹持组件5具有柔性夹持状态及弹性保持状态； 所述夹持组件5包括布置于连接座401一侧的辅助连接座501；所述辅助连接座501上安装设置有调节活动气缸502；所述调节活动气缸502活动端设置有辅助块503；所述辅助块503上呈对称状设置有两个调节滑轨504；所述调节滑轨504为倾斜或水平布置；所述调节滑轨504活动端通过安装座设置有夹持单元505； 所述夹持单元505包括布置于所述调节滑轨504活动端的夹持基座5051；所述夹持基座5051上呈对称状开设有滑动槽5052；所述滑动槽5052夹角小于等于九十度； 所述夹持基座5051内活动穿设有驱动轴5053；所述夹持基座5051与所述驱动轴5053之间构成负压抽吸结构； 所述驱动轴5053端部设置有弧形扣5054；所述驱动轴5053端部两侧设置有连接限位槽块5055； 所述连接限位槽块5055内壁开设有呈圆柱结构的转动钩连槽5056及宽度小于所述转动钩连槽5056径向直径的容纳适配槽5057； 所述夹持单元505还包括固定于所述弧形扣5054上的双向复力弧形弹簧5058；所述双向复力弧形弹簧5058两侧及“C”形开口处设置有橡胶块5059；所述双向复力弧形弹簧5058两端固定设置有钩连滑动座50510；所述钩连滑动座50510与所述滑动槽5052滑动配合； 其中，所述钩连滑动座50510相对所述连接限位槽块5055位置设置有限位转动轴50511；所述限位转动轴50511由矩形结构的中心部及布置于所述中心部两侧的呈扇形结构的转动部构成。

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