中国科学院上海技术物理研究所饶鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法、装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119738049B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411991117.0,技术领域涉及:G01J5/53;该发明授权一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法、装置是由饶鹏;周宇星;洪杨;孙胜利设计研发完成,并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法、装置在说明书摘要公布了:本发明提供了一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法、装置,涉及天基红外定量化测量领域。该方法通过恒星定标数据计算单像元的在轨绝对辐射定标系数,并结合后光路黑体定标获取的地面相对辐射定标系数,将单像元的在轨绝对辐射定标系数扩展至全像面在轨绝对辐射定标系数,解决单像元定标系数无法适用于全像面反演的问题,实现全像面的绝对辐射定标,并对地面定标系数进行修正。该方法融合了地面和在轨定标结果,为大口径红外相机提供了高精度、高可靠性的辐射定标能力,满足了高精度定量化测量需求。
本发明授权一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法、装置在权利要求书中公布了:1.一种针对大口径红外相机的星地联合辐射定标方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1、通过全光路黑体计算全像面地面绝对辐射定标系数,并通过后光路黑体定标获取相对辐射定标系数,其中,全像面地面绝对辐射定标系数与相对辐射定标系数构成地面定标系数; 步骤2、通过恒星定标数据计算单像元的在轨绝对辐射定标系数,并结合相对辐射定标系数,将单像元的在轨绝对辐射定标系数扩展至全像面在轨绝对辐射定标系数; 步骤3、利用全像面在轨绝对辐射定标系数对地面定标系数进行修正;步骤2中,通过恒星定标数据计算单像元的在轨绝对辐射定标系数具体为: 首先根据相机观测需求以及相机观测天区,选择多颗合适的恒星源作为恒星定标基准源;利用多帧恒星图像进行堆叠,并对堆叠后图像进行恒星光度估计,利用恒星光度估计结果进行绝对辐射定标,孔径大小选择为rr,获得单像元绝对辐射定标系数,计算公式如下所示: , , 式中,为像素点的响应值,,为质心坐标,由恒星区域外围像素点RR的均值估计的作为背景辐射,为最终恒星响应值;定标公式为: , 式中,为单像元绝对辐射定标系数,B为截距,为恒星辐照度;通过对多颗恒星进行采样,获取多组,利用最小二乘法拟合单像元在轨绝对辐射定标系数; 结合全像面、单像元相对辐射定标系数、,将单像元的在轨绝对辐射定标系数扩展至全像面在轨绝对辐射定标系数具体为: , 式中,为相对辐射定标系数,为中像元的相对辐射定标系数,为单像元的在轨绝对辐射定标系数。
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